利用搜索空間分割技術改善動態壓縮效能之平行化自動測試圖樣產生技術

Abstract

為了解決自動化測試圖樣產生技術 (Automatic Test Pattern Generation) 的消耗時間，許多加速自動化測試圖樣產生技術的平行化技術被發表。但是大部分的平行化技術有測試圖樣 (Test Pattern) 膨脹的缺陷。 在這本論文中，為了可以降低測試資料量，我們提出了一個可以改善動態壓縮效能 (Dynamic Compaction) 的技術。這個技術使用了平行化搜尋空間分割 (Parallel Search Space Partitioning) ，而這個技術被實作在一個多執行序系統 (Multi-threading System) 上，其執行序使用共享儲存記憶體 (Shared Memory)的方式交換資料 。同時，為了減少執行的時間，我們提出的搜尋空間分割技術是在一個負載平衡 (Load Balancing) 之下實做出來的。 這個技術在ITC99的測試電路與兩個工業電路上驗證結果，而這些電路的實驗結果表示我們所提出的技術可以達成降低測試圖樣這個目標，且最多高達18%。

Many parallel Automatic Test Pattern Generation (ATPG) techniques have been proposed to speed up the time-consuming test generation process. However, most of the parallel ATPG’s suffer test pattern inflation. This thesis proposes a dynamic compaction aware search space partitioning parallel ATPG that is based on a shared memory multi-threading system. The proposed ATPG can improve the dynamic compaction efficiency to reduce the test pattern count. Our technique implementation is also based on dynamic load balancing. Our technique is validated by ITC99 benchmark circuits and two industry designs. Experimental results show that the proposed TPG can reduce the test pattern count by up to 18%.