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電子工程學研究所
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第 1 到 10 筆結果,共 26 筆。
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2010
考慮測試功率、可壓縮性、以及電壓降效應之測試向量產生方法
Scan Test Pattern Generation Considering Test Power, Compressibility, and IR-Drop Effects
Meng-Fan Wu; 吳孟帆
電子工程學研究所
2010
資料轉換器之測試與校正
Testing and Calibration of Data Converters
Xuan-Lun Huang; 黃炫倫
電子工程學研究所
2018
基於現場可程式化邏輯閘陣列實現低資源使用率的200皮秒解析度格式器
An FPGA-based 200-ps Resolution 16-channel Formatter with Low Resource Usage
Guan-Hao Hou; 侯冠豪
電子工程學研究所
2017
基於排除錯誤觸發時間來提升地震定位精確度
Improving Earthquake Locating Accuracy by Rejecting Erroneous Triggering Times
Chi-En Chiang; 江季恩
電子工程學研究所
2018
基於現場可程式化邏輯閘陣列實現以邊緣產生器池為基礎的200皮秒解析度接收器
An EG-Pool Based 200-ps Resolution Receiver Implemented on FPGA
Wei-Chen Huang; 黃維晨
電子工程學研究所
2015
靜態學習之改進及其在路徑導向決策演算法的應用
Improved Static Learning and Its Application to PODEM
Jiun-Han Pan; 潘俊翰
電子工程學研究所
2017
針對改善圖樣品質之平行自動化N次測試圖樣產生方法
A parallel ATPG aiming at improving N-detect pattern quality
Kun-Wei Lin; 林坤緯
電子工程學研究所
2013
用於薄膜電晶體液晶顯示器源極驅動器晶片可測試性技術
A DfT Technique for TFT-LCD Source Driver ICs
Chia-Lung Kao; 高嘉隆
電子工程學研究所
2017
應用於軟體自我測試之彈性化混合型電路錯誤模擬器
A Flexible Hybrid Fault Simulator for Software-Based Self-Test
Ting-Hui Li; 李亭慧
電子工程學研究所
2017
利用搜尋空間分割平行測試圖樣產生技術增進橋接故障偵測覆蓋率
Improving Bridging Fault Coverage by Parallel Search Space Partitioning ATPG
Fang-Yu Liu; 劉芳瑜
電子工程學研究所
探索
系所
26
電子工程學研究所
學位
24
碩士
2
博士
作者
1
chi-chun wang
1
chi-en chiang
1
chia-an lee
1
chia-ling tasi
1
chia-lung kao
1
ching-yuan chen
1
chun-pei tai
1
fang-yu liu
1
guan-hao hou
1
guo-yu lin
.
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關鍵字
4
ate
3
ate,multi-channel formatter
3
ate,multi-channel formatter,progr...
3
vlsi testing
3
自動測試機台
3
自動測試機台,多通道格式器
2
earthquake locating
2
fault simulator
2
sar adc
2
地震定位
.
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出版年
1
2019
3
2018
6
2017
1
2016
5
2015
2
2014
3
2013
1
2011
4
2010
全文
26
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