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電子工程學研究所
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第 51 到 59 筆結果,共 59 筆。
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出版年
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作者
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2015
使用新穎辭典並考慮實體資訊之多重缺陷診斷
Multiple Defect Physical-aware Diagnosis using Novel Dictionary
Po-Hao Chen; 陳柏豪
電子工程學研究所
2011
用於減輕掃描鍊位移時電壓降峰值的測試時域最佳化之平行化模擬技術
A Parallel Simulation Technique for Test Clock Domain optimization to Reduce Peak IR Drop During Scan
Yu-Chiuan Huang; 黃鈺筌
電子工程學研究所
2016
針對測試壓縮的平行次序自動測試向量產生器
Parallel Order Automatic Test Pattern Generation for Test Compaction
Yu-Wei Chen; 陳佑維
電子工程學研究所
2008
嵌入式矽智財核心之IEEE 1500安全測試封套
Secured IEEE 1500 Test Wrapper for Embedded IP Cores
Geng-Ming Chiu; 邱畊銘
電子工程學研究所
2022
神經形態晶片的測試配置和測試樣本自動生成
Automatic Test Configuration and Pattern Generation (ATCPG) for Neuromorphic Chips
I-Wei Chiu; 邱奕瑋
電子工程學研究所
2018
針對預充電半緩衝/預充電全緩衝式非同步管線式電路的測試方法
Test methodology for PCHB/PCFB based asynchronous pipeline circuits
Ting-Yu Shen; 沈庭宇
電子工程學研究所
2018
適用於群聚多重轉態延遲錯誤診斷技術
Diagnosis Technique Suitable for Clustered Multiple Transition Delay Faults
Po-Wei Chen; 陳柏瑋
電子工程學研究所
2020
在大量生產晶片中診斷系統性維持時間錯誤
Systematic Hold-time Fault Diagnosis of Production Chips
Chih-Yan Liu; 劉治硯
電子工程學研究所
2020
脈衝神經網路晶片之錯誤模型以及測試
Fault Modeling and Testing of Spiking Neural Network Chips
Yi-Zhan Hsieh; 謝宜展
電子工程學研究所
探索
系所
59
電子工程學研究所
學位
58
碩士
1
博士
指導教授
2
李建模(chien-mo li | cmli@ntu.edu.tw...
1
李建模(chien-mo li),黃俊郎(jiun-lang hu...
1
李建模(chien-mo li),黃俊郎(jiun-lang hu...
作者
1
ang-feng lin
1
bing-chuan bai
1
bo-hua chen
1
chen-hung wu
1
cheng-yu han
1
chi-jih shih
1
chi-lin lee
1
chia-cheng pai
1
chia-shao chen
1
chia-yuan chang
.
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關鍵字
5
非同步電路
4
非同步電路,雙軌邏輯
3
asynchronous circuits
3
dft
3
diagnosis
3
gpu
3
power-supply-noise
3
掃描鏈
3
非同步電路,雙軌邏輯,可測試設計
3
非同步電路,雙軌邏輯,可測試設計,自動測試圖樣產生器
.
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出版年
7
2020 - 2022
33
2010 - 2019
19
2005 - 2009
全文授權
49
有償授權
5
未授權
3
同意授權(全球公開)
2
同意授權(限校園內公開)