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http://tdr.lib.ntu.edu.tw/jspui/handle/123456789/69983
標題: | 針對預充電半緩衝/預充電全緩衝式非同步管線式電路的測試方法 Test methodology for PCHB/PCFB based asynchronous pipeline circuits |
作者: | Ting-Yu Shen 沈庭宇 |
指導教授: | 李建模(Chien-Mo Li) |
關鍵字: | 非同步電路,可測試設計,自動測試圖樣產生,預充電半緩衝, Asynchronous circuits,Design for testability,Automatic test pattern generation,Precharge half-buffer, |
出版年 : | 2018 |
學位: | 碩士 |
摘要: | 在所有非同步電路設計中,預充電半緩衝/預充電全緩衝式電路由於其低面積及高速度表現而聞名。本論文發表了一種針對預充電半緩衝/預充電全緩衝式非同步電路的新測試方法。我們的可測試設計不需要打斷任何內部回饋線路。我們分析了由於轉態延遲錯誤而導致的錯誤現象,這些錯誤在過去的研究中從未被分析。我們呈現並證明了在扇出分叉上的錯誤會打破等時分叉的假設所以他們必須被測試。我們發表了針對定值錯誤的三向量測試,以及針對轉態延遲錯誤的四向量測試。除此之外,我們也發表了新的供自動測試圖樣產生(ATPG)使用的測試模型,使既存的測試工具可應用此技術。實驗結果顯示我們的錯誤覆蓋率相較於過去的技術提高了35%。 Among all asynchronous design, precharge half/full buffer (PCHB/PCFB) is very popular due to its small area and high performance. This thesis proposes new test methodology for PCHB/PCFB asynchronous circuits. Our design for testability (DfT) does not need to break any internal feedback loop. We analyze the fault effects of transition delay faults, which has not been considered in early publications. We also show that faults on fanout branches break isochronic fork assumption so they must be tested. We propose three-pattern tests for stuck-at faults and four pattern tests for transition delay faults. In addition, we propose a new model for ATPG so that existing tools can be used. Experimental results show that our fault coverage is 35% better than previous techniques . |
URI: | http://tdr.lib.ntu.edu.tw/jspui/handle/123456789/69983 |
DOI: | 10.6342/NTU201800495 |
全文授權: | 有償授權 |
顯示於系所單位: | 電子工程學研究所 |
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