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電子工程學研究所
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2017
考慮實體資訊及單元資訊之多重缺陷診斷
Physical-aware and Cell-aware Diagnosis of Multiple Defects
Chi-Lin Lee; 李其霖
電子工程學研究所
2009
包含未知訊號之測試結果壓縮設計
Test Response Compaction In The Presence Of Many Unknowns
Wei-Che Wang; 王偉哲
電子工程學研究所
2008
液晶顯示器源極驅動器晶片上升時間以及下降時間測試的可測試性設計
A DfT Technique for Rise Time and Fall Time Testing of LCD Source Driver IC
Chih-He Lin; 林志和
電子工程學研究所
2008
N型非晶矽薄膜電晶體數位電路之極低電壓與靜態電流測試
Very-Low-Voltage and IDDQ Testing of Amorphous Silicon TFT Digital NMOS Circuits
Shiue-Tsung Shen; 沈學聰
電子工程學研究所
2010
用於減輕掃瞄鍊移位時電源供應雜訊峰值的測試時域最佳化
Test Clock Domain Optimization for Peak Power Supply Noise Reduction in Scan Shift Cycles
Jen-Yang Wen; 溫仁揚
電子工程學研究所
2008
降低測試功率之可測試設計與最小漏電流向量產生技術
A DfT and Minimum Leakage Pattern Generation Technique for Test Power Reduction
Wei-Chung Kao; 高瑋聰
電子工程學研究所
2008
BCH碼之測試結果壓縮診斷技術
Test Response Compaction and Diagnosis using BCH code
Fang-Min Wang; 王方珉
電子工程學研究所
2007
同步縮減系統晶片測試資料量與測試時間之方法
Simultaneous Test Data Volume and Test Application Time Reduction for System-on-Chip
Bing-Chuan Bai; 白炳川
電子工程學研究所
2007
多重掃描鏈時序錯誤診斷
Diagnosis of Multiple Scan Chain Timing Faults
Wei-Shun Chuang; 莊惟舜
電子工程學研究所
2006
CRC:低峰值功率可測試技術設計
Complemented Response Cell (CRC) : A Low Peak Power design for Testability Technique
Bo-Hua Chen; 陳勃樺
電子工程學研究所
探索
學位
58
碩士
1
博士
指導教授
2
李建模(chien-mo li | cmli@ntu.edu.tw...
1
李建模(chien-mo li),黃俊郎(jiun-lang hu...
1
李建模(chien-mo li),黃俊郎(jiun-lang hu...
作者
1
ang-feng lin
1
bing-chuan bai
1
bo-hua chen
1
chen-hung wu
1
cheng-yu han
1
chi-jih shih
1
chi-lin lee
1
chia-cheng pai
1
chia-shao chen
1
chia-yuan chang
.
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關鍵字
5
非同步電路
4
非同步電路,雙軌邏輯
3
asynchronous circuits
3
dft
3
diagnosis
3
gpu
3
power-supply-noise
3
掃描鏈
3
非同步電路,雙軌邏輯,可測試設計
3
非同步電路,雙軌邏輯,可測試設計,自動測試圖樣產生器
.
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出版年
7
2020 - 2022
33
2010 - 2019
19
2005 - 2009
全文授權
49
有償授權
5
未授權
3
同意授權(全球公開)
2
同意授權(限校園內公開)
全文
59
true