Skip navigation
DSpace
JSPUI
DSpace preserves and enables easy and open access to all types of digital content including text, images, moving images, mpegs and data sets
Learn More
English
中文
Browse
Communities
& Collections
Publication Year
Author
Title
Subject
Search TDR
Rights Q&A
Help
My Page
Receive email
updates
Edit Profile
NTU Theses and Dissertations Repository
Browsing by Author 李建模(Chien-Mo Li)
Jump to:
0-9
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
or enter first few letters:
Sort by:
title
publish year
In order:
Ascending
Descending
Results/Page
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
Authors/Record:
All
1
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
Showing results 1 to 20 of 58
next >
Publication Year
Title
Author(s)
Department
2008
BCH碼之測試結果壓縮診斷技術
Test Response Compaction and Diagnosis using BCH code
Fang-Min Wang; 王方珉
電子工程學研究所
2006
CRC:低峰值功率可測試技術設計
Complemented Response Cell (CRC) : A Low Peak Power design for Testability Technique
Bo-Hua Chen; 陳勃樺
電子工程學研究所
2006
IEEE 1500標準測試封套產生和驗證及功率預估自動化工具之實現
Implementation of an IEEE 1500 Test Wrapper Generation, Validation and Power Estimation Tool
Po-Lin Wu; 吳柏霖
電子工程學研究所
2008
N型非晶矽薄膜電晶體數位電路之極低電壓與靜態電流測試
Very-Low-Voltage and IDDQ Testing of Amorphous Silicon TFT Digital NMOS Circuits
Shiue-Tsung Shen; 沈學聰
電子工程學研究所
2020
qATG:量子電路測試產生技術
qATG: Automatic Test Generation for Quantum Circuits
Chen-Hung Wu; 吳辰鋐
電子工程學研究所
2015
一個0.4伏特單次存取能量消耗4.76微微焦耳11.6百萬赫芝1千位元靜態隨機存取記憶體具有提出的單端存取7個電晶體記憶單元並使用寫入與讀取偵測技術
A 400mV 4.76pJ/Access 11.6MHz 1Kb SRAM with Proposed Single-ended 7T Cell Using Write and Read Detecting Schemes
Po-Kai Hsieh; 謝柏凱
電子工程學研究所
2008
使用多重擷取時脈高速掃描測試圖樣的轉換錯誤診斷
Transition Fault Diagnosis Using At-Speed Scan Patterns with Multiple Capture Clocks
Shang-Feng Chao; 趙上鋒
電子工程學研究所
2015
使用新穎辭典並考慮實體資訊之多重缺陷診斷
Multiple Defect Physical-aware Diagnosis using Novel Dictionary
Po-Hao Chen; 陳柏豪
電子工程學研究所
2005
使用於系統晶片中之兩階層式測試資料暨測試時間壓縮
A Two-level Test Data Compression and Test Time Reduction Technique for SOC
Yu-Te Liaw; 廖育德
電子工程學研究所
2020
使用累積學習預測生產測試中晶片的最小工作電壓
Minimum Operating Voltage Prediction in Production Test Using Accumulative Learning
Yen-Ting Kuo; 郭彥庭
電子工程學研究所
2012
利用代表性隨機漫步演算法應用於全速測試之暫態電壓降分析
Transient IR-drop Analysis for At-speed Testing Using Representative Random Walk
Ming-Hong Tsai; 蔡旻宏
電子工程學研究所
2014
利用圖形處理器高品質測試向量產生器
GPU-Based High Quality ATPG
Kuan-Yu Liao; 廖官榆
電子工程學研究所
2009
包含未知訊號之測試結果壓縮設計
Test Response Compaction In The Presence Of Many Unknowns
Wei-Che Wang; 王偉哲
電子工程學研究所
2005
區段加權亂數低功率自我測試之基頻數位接收機之研製
Design and Implementation of A Low Power Self-Testable Baseband Receiver Using Segment Weighted Random BIST
Chun-Yi Lee; 李濬屹
電子工程學研究所
2007
同步縮減系統晶片測試資料量與測試時間之方法
Simultaneous Test Data Volume and Test Application Time Reduction for System-on-Chip
Bing-Chuan Bai; 白炳川
電子工程學研究所
2005
單晶片電視調諧器其相位雜訊之經濟有效測試方法
Effective and Economic Phase Noise Testing Methodology for Single Chip TV Tuner
Po-Chou Lin; 林柏州
電子工程學研究所
2020
在大量生產晶片中診斷系統性維持時間錯誤
Systematic Hold-time Fault Diagnosis of Production Chips
Chih-Yan Liu; 劉治硯
電子工程學研究所
2022
在雜訊中等規模量子世代之量子電路診斷
Diagnosis of Quantum Circuits in the NISQ Era
Yu-Min Li; 李育旻
電子工程學研究所
2013
基於連續弦方法之多重電路模擬
MUSIC: A Multi-Circuit Simulator based on the Successive Chord Method
Hung-Yi Li; 李泓頤
電子工程學研究所
2007
多重掃描鏈時序錯誤診斷
Diagnosis of Multiple Scan Chain Timing Faults
Wei-Shun Chuang; 莊惟舜
電子工程學研究所