薄膜電晶體液晶顯示器相關技術之專利計量研究

Abstract

專利計量學在1994年由Narin所提出，其認為專利計量與書目文獻計量兩者具有高度相似性，主要內容為藉由專利引用方式，並可透過國家生產力、發明人生產力、參照週期、引用影響係數，與同國籍引用偏好等專利指標評估科技活動。本研究著重於探討專利成長、以及專利資訊之專利權人及發明人之分佈情形。研究方法主要為蒐集文獻以利文獻分析、檢索專利資料庫蒐集1976年至2003年 28年間歷年薄膜電晶體液晶顯示器(TFT-LCD)相關技術專利，以及專利計量方法：藉由書目計量學中文獻成長模式以及文獻分佈之布萊德福定律與洛卡定律，分別驗證專利成長，以及專利權人與發明人之分佈情形。 本研究主要結果發現：TFT-LCD相關技術專利件數持續成長，於1998年開始進入發展週期中之成熟期，專利件數呈現穩定成長，其中日本之專利件數總計8,522件，佔全部比例高達56.71%，處於領先地位。而統計各專利權人專利件數，日本籍專利權人擁有專利件數累計達8,880件，大幅領先其他各國專利權人擁有之專利件數；統計各發明人數，日本籍發明人共6,953位，獨佔全體發明人53.67%，因此，日本可被稱為TFT-LCD相關技術專利領導國；韓國第一件專利生產於1991年，在日本、美國、韓國、台灣與德國前五大專利權國中專利表現起步最晚，但TFT-LCD相關技術專利成長迅速，於2003年專利件數成長率以30.45%領先日本與美國，並有機會走向該領域專利生產之領導國家。 關於定律驗證部分發現：以布萊德福定律驗證TFT-LCD相關技術之a、b、c三區等區專利件數之專利權人分佈，約為1：4：139，其c區之專利權人量明顯暴增，簡化較約為1：5：53，較布萊德福所提出之1：n：n2，該領域之專利權人分佈更接近 1：n：n3；換言之，專利件數更集中於a、b兩區之專利權人。依照洛卡定律相關驗證公式分別計算出TFT-LCD相關技術n值為-1.854，c值為0.5535，與洛卡定律之n值與c值不符合。研究者認為對於數據不同之選擇方式，驗證所得結果亦有產生差異結果之可能。