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http://tdr.lib.ntu.edu.tw/jspui/handle/123456789/22455
標題: | 動態的軟性錯誤率模擬器 A Dynamic Soft Error Rate Simulator |
作者: | Teng-Han Wang 王騰漢 |
指導教授: | 黃俊郎(Jiun-Lang Huang) |
關鍵字: | 軟性錯誤,動態, soft error,dynamic, |
出版年 : | 2010 |
學位: | 碩士 |
摘要: | 由宇宙射線所引起的軟性錯誤,會在奈米層級的超大型積體電路設計上導致嚴重的可靠性問題。如果我們要發展相關的軟性錯誤容錯技術,首先我們必須先分析軟性錯誤在系統階級影響的效應。在這篇論文中,我們在元件庫特徵化的基礎上,提出一個依據於樣本的軟性錯誤率計算方法來計算組合電路和序向電路。我們發展了一個動態的軟性錯誤率模擬器。我們使用 ISCAS'89和ITC'99中的基準電路來比較我們提出的方法與使用HSpice模擬的差異性。我們所提出的方法比使用HSpice模擬快了5 ~ 6個數量級,而誤差只在3%以內。 Soft errors due to cosmic rays cause an important reliability problem for nano-scale VLSI designs. If we want to develop the related soft error tolerant techniques, first we need to analyze the effect of soft errors at the system level. In this thesis, we propose a pattern-dependent soft error rate computation technique based on cell library characterization for combinational circuits and sequential circuits. We develop a dynamic soft error rate simulator. We use benchmark circuits from ISCAS’89 and ITC’99 to compare our proposed technique with HSpice simulation. Our proposed technique is 5 ~ 6 orders of magnitude speed-up over HSpice simulation with less than 3% error. |
URI: | http://tdr.lib.ntu.edu.tw/jspui/handle/123456789/22455 |
全文授權: | 未授權 |
顯示於系所單位: | 電子工程學研究所 |
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