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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
---|---|---|---|
2014 | 以增進測試品質為目的之考慮壓降分佈的測試圖樣產生技術 An IR Drop Aware Test Pattern Generation Technique for Test Quality Enhancement | Li-Chen Tsai; 蔡立宸 | 電子工程學研究所 |
出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
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2014 | 以增進測試品質為目的之考慮壓降分佈的測試圖樣產生技術 An IR Drop Aware Test Pattern Generation Technique for Test Quality Enhancement | Li-Chen Tsai; 蔡立宸 | 電子工程學研究所 |