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| DC 欄位 | 值 | 語言 |
|---|---|---|
| dc.contributor.advisor | 郭瑞祥 | |
| dc.contributor.author | Thing-Chang Lin | en |
| dc.contributor.author | 林鼎章 | zh_TW |
| dc.date.accessioned | 2021-06-17T03:25:09Z | - |
| dc.date.available | 2018-06-13 | |
| dc.date.copyright | 2018-06-13 | |
| dc.date.issued | 2018 | |
| dc.date.submitted | 2018-05-24 | |
| dc.identifier.citation | 1. 引頭麻實,稻盛和夫如何讓日本航空再生,譯者:呂美女,台北市:天下雜誌股份有限公司,2013。
2. 朱蘭,朱蘭論質量策劃,北京市:清華大學出版社有限公司,1999。 3. 李旭華,品質管理,台中市:滄海圖書資訊股份有限公司,2015。 4. 松井忠三,無印良品成功90%靠制度,譯者:江裕真,台北市:遠見天下文化出版股份有限公司,2014。 5. 張俊彥,積體電路製程及設備技術手冊,台北市:中華民國產業科技發展協進會;中華民國電子材料與元件協會,1997。 6. 張國棟、邱培其,SPC統計製程管制與軟體應用,台北縣汐止市:中國生產力中心,2004。 7. 莊達人,VLSI製造技術,台北市:高立圖書有限公司,1995。 8. 陳永信,“QS 9000 品質系統-21世紀的製造業品保技術(十二)”,機械月刊,1996:312-314。 9. 傅合彥、黃士滔,品質管理:觀念、理論與方法,台北縣三重市:前程企管,1984。 10. 經濟部標準檢驗局,中華民國國家標準 CNS 品質管理系統-要求事項,台北市:經濟部標準檢驗局,2016。 11. Chrysler Corporation;Ford Motor Company;General Motors Corporation. Advanced Product Quality Planning and Control Plan. Southfield, Michigan:Automotive Industry Action Group, 2008. 12. Chrysler Corporation;Ford Motor Company;General Motors Corporation. Measurement Systems Analysis. Southfield, Michigan:Automotive Industry Action Group, 2010. 13. Chrysler Corporation;Ford Motor Company;General Motors Corporation. Potential Failure Mode and Effects Analysis FMEA Reference Manual (4th Edition). Southfield, Michigan:Automotive Industry Action Group, 2008. 14. DaimlerChrysler Corporation;Ford Motor Company;General Motors Corporation. Production Part Approval Process. Southfield, Michigan:Automotive Industry Action Group, 2006. 15. DaimlerChrysler Corporation;Ford Motor Company;General Motors Corporation. Statistical Process Control. Southfield, Michigan:Automotive Industry Action Group, 2005. 16. David R. Anderson;Dennis J. Sweeney;Thomas A. Willams;Jeffrey D. Camm;James J. Cochran. 商務與經濟統計,譯者:張建華、王健、馮燕奇. 北京市:機械工業出版社,2015. 17. Feigenbaum V. A. Total Quality Control. New York:McGraw-Hill, 1961. 18. International Organization for Standardization. ISO 9001:2015 Quality management system - Requirements. Geneva, Switzerland:the International Organization for Standardization, 2015. 19. Liker K. Jeffrey. 豐田模式,譯者:李芳齡,台北市:美商麥格羅希爾國際股份有限公司 台灣分公司,2004. 20. Nelson S. Lloyd. “Technical Aids.” Journal of Quality Technology, 1984:238-239. 21. Ohno Taiichi. Toyota Production System. Portland:Productivity Press, 1988. 22. Page E. S. “Continuous inspection scheme.” Biometrika, 1954:100-115. 23. Qiu Peihua. Introduction to Statistical Process Control. Boca Raton:Chapman and Hall/CRC, 2014. 24. Roberts S. V. “Control chart tests based on geometric moving averages.” Technometrics, 1959:239-250. 25. Scholtes R. Peter. the Leader's Handbook. McGraw-Hill, 1998. 26. Shewhart A. Walter. Economic control of quality of manufactured product. New York:Van Nostrand, 1931. 27. Stanley Wolf;Richard N. Tauber. Silicon Processing for the VLSI Era. Sunset Beach, California:Lattice Press, 1986. 28. Western Electric Company. Statistical Quality Control Handbook. Indianapolis, Indiana:Western Electric Co., 1956. | |
| dc.identifier.uri | http://tdr.lib.ntu.edu.tw/jspui/handle/123456789/69720 | - |
| dc.description.abstract | 品質系統,或稱品質管理系統,其與各式的管理工具是品質管理發展百年來集合企業與學界經驗總結出來的寶庫,企業管理高層在決定導入品質管理系統時,應多瞭解並參與其過程,鼓勵同仁深入學習以加速融入原有的組織運作內。本研究認為不同的產業在導入品質管理系統時,需要做一些最適化的調整,因此企業不宜以自身對品質管理系統的認知要求供應商在表面型式上做到一致,而是應該互相瞭解後依品質管理系統的精神為之。
資訊科技的日進千里對製造業的影響相當深遠,因應這個變化,品質管理這個學門仍然有許多值得進一步研究的地方,本論文即提出統計製程管制在現代十二吋晶圓製造廠中的應用,以及未來可能的發展空間。 | zh_TW |
| dc.description.abstract | The quality management system and its management tools are the treasures resulted from the experience and development of firms and academia in the last hundred years. Top managements should be involved in introducing quality system into company, and encourage employees to learn it in depth that can help engaging with original operation. This article mentioned the quality system should be optimized when introducing into different industries. It is not suitable for firms to ask their suppliers to follow the exactly identical format superficially, but understand each other to cooperate practically.
Advanced information technology is changing manufacturing methodology drastically. That’s why the quality management is still an interesting topic for developing. This article mentioned the application of statistical process control in modern 12 inch integrated circuit manufacturing, and raised the possible direction for future study. | en |
| dc.description.provenance | Made available in DSpace on 2021-06-17T03:25:09Z (GMT). No. of bitstreams: 1 ntu-107-P04750022-1.pdf: 1799532 bytes, checksum: 107bdd318ad05ed5c323c6eceb88f39e (MD5) Previous issue date: 2018 | en |
| dc.description.tableofcontents | 目錄
口試委員會審定書 i 誌謝 ii 中文摘要 iii ABSTRACT iv 目錄 v 圖目錄 vii 表目錄 viii 第一章 緒論 1 第一節、研究背景 1 第二節、研究動機 3 第三節、研究目的 5 第四節、論文結構 6 第二章 文獻探討 8 第一節、品質管理系統ISO 9001與IATF 16949 8 第二節、統計製程管制(SPC) 18 第三節、半導體產業之晶圓製造 25 第三章 A公司品質系統 28 第一節、統計製程管制 28 第二節、8D改善手法 32 第三節、失效模式與效應分析 38 第四節、5-why真因分析 42 第四章 案例分析 45 第一節、成立團隊,問題描述與實施防堵對策 45 第二節、真因驗證 47 第三節、選擇永久對策並確認其有效性 52 第四節、預防再發與團隊完成任務 54 第五章 結論與建議 56 第一節、研究結論 56 第二節、研究建議 57 參考文獻 58 圖目錄 圖 1 ISO 9001各章節架構 9 圖 2 APQP產品品質計劃時程表 12 圖 3 量測系統變異之特性要因圖 17 圖 4 常態分佈曲線 20 圖 5 穩定狀態下的監測趨勢圖 21 圖 6 西電規則 22 圖 7 尼爾森規則 22 圖 8 化學氣相沉積氣體流量示意圖 31 圖 9 魚骨圖(要因分析圖)範例 35 圖 10 失效模式與效應分析之運用 40 圖 11 晶圓允收測試之接觸窗串聯阻值趨勢圖 46 圖 12 高阻值接觸窗之故障分析 47 圖 13 金屬濺鍍機台結構 48 圖 14 本案例之魚骨圖分析 50 圖 15 壓力趨勢圖轉化為底壓趨勢圖 53 表目錄 表 1 品質管理演進 1 表 2 大Q與小q的對比 3 表 3 ISO 9001 2008年版與2015年版之各章標題對照 8 表 4 量測系統分析說明 15 表 5 機遇變異與非機遇變異 18 表 6 Ca值等級對照表 23 表 7 Cp值等級對照表 24 表 8 Cpk值等級對照表 24 表 9 (Process)FMEA表格範例 41 表 10 5-why 推導範例 43 表 11 受影響批次統計表 46 | |
| dc.language.iso | zh-TW | |
| dc.subject | 失效模式與效應分析 | zh_TW |
| dc.subject | 品質管理系統 | zh_TW |
| dc.subject | 統計製程管制 | zh_TW |
| dc.subject | 半導體 | zh_TW |
| dc.subject | 5-why | en |
| dc.subject | Quality management system | en |
| dc.subject | ISO 9001 | en |
| dc.subject | IATF 16949 | en |
| dc.subject | Statistical process control | en |
| dc.subject | semiconductor | en |
| dc.subject | failure mode and effect analysis | en |
| dc.subject | 8D | en |
| dc.title | 品質系統在半導體產業之實務應用
-以A公司為例 | zh_TW |
| dc.title | The Practical Application of Quality System in Semiconductor Industry
- A Case Study of A Company | en |
| dc.type | Thesis | |
| dc.date.schoolyear | 106-2 | |
| dc.description.degree | 碩士 | |
| dc.contributor.oralexamcommittee | 陳俊忠,洪劍峭,張誠 | |
| dc.subject.keyword | 品質管理系統,統計製程管制,半導體,失效模式與效應分析, | zh_TW |
| dc.subject.keyword | Quality management system,ISO 9001,IATF 16949,Statistical process control,semiconductor,failure mode and effect analysis,8D,5-why, | en |
| dc.relation.page | 59 | |
| dc.identifier.doi | 10.6342/NTU201800846 | |
| dc.rights.note | 有償授權 | |
| dc.date.accepted | 2018-05-24 | |
| dc.contributor.author-college | 管理學院 | zh_TW |
| dc.contributor.author-dept | 臺大-復旦EMBA境外專班 | zh_TW |
| 顯示於系所單位: | 臺大-復旦EMBA境外專班 | |
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|---|---|---|---|
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