搜尋
新增篩選器:
使用篩選器讓結果更精確。
第 1 到 2 筆結果,共 2 筆。
- 上一個
- 1
- 下一個
符合的文件:
出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
---|---|---|---|
2017 | 像散式量測系統於掃針式原子力顯微鏡之設計與開發 Design and Development of Tip-scanning Atomic Force Microscope based on an Astigmatic Detection System | Shao-Po Chiu; 邱紹博 | 機械工程學研究所 |
2019 | 高速壓電三軸掃描器之非線性效應補償方法 A Nonlinear Effect Compensation Method for a High Speed Piezoelectric Three-Axis Scanner | YU CHEN KUO; 郭昱辰 | 機械工程學研究所 |
探索
系所
- 2 機械工程學研究所
學位
- 2 碩士
指導教授
關鍵字
- 2 atomic force microscope
- 1 atomic force microscope,high-spee...
- 1 atomic force microscope,high-spee...
- 1 atomic force microscope,high-spee...
- 1 atomic force microscope,piezo act...
- 1 atomic force microscope,piezo act...
- 1 atomic force microscope,piezo act...
- 1 atomic force microscope,piezo act...
- 1 原子力顯微鏡,壓電致動器,像散式讀取頭
- 1 原子力顯微鏡,壓電致動器,像散式讀取頭,表面輪廓掃描
- 下一頁 >
全文授權
- 2 有償授權
全文
- 2 true