Skip navigation
DSpace
機構典藏 DSpace 系統致力於保存各式數位資料(如:文字、圖片、PDF)並使其易於取用。
點此認識 DSpace
English
中文
瀏覽論文
校院系所
出版年
作者
標題
關鍵字
搜尋 TDR
授權 Q&A
幫助
我的頁面
接受 E-mail 通知
編輯個人資料
NTU Theses and Dissertations Repository
搜尋
搜尋:
整個系統
電機資訊學院
電機工程學系
for
目前的篩選器:
標題
系所
學位
作者
指導教授
系所
關鍵字
出版年
授權
Has File(s)
包含
等於
ID
不等於
不包含
非 ID
標題
系所
學位
作者
指導教授
系所
關鍵字
出版年
授權
Has File(s)
包含
等於
ID
不等於
不包含
非 ID
開始新的搜尋
新增篩選器:
使用篩選器讓結果更精確。
標題
系所
學位
作者
指導教授
系所
關鍵字
出版年
授權
Has File(s)
包含
等於
ID
不等於
不包含
非 ID
第 1 到 10 筆結果,共 11 筆。
上一個
1
2
下一個
符合的文件:
出版年
標題
作者
系所
2017
雷射共軛焦顯微鏡暨原子力顯微鏡之新穎複合系統設計
A Novel Design of Hybrid Microscope by Integrating Atomic-Force Microscope and Confocal Laser Scanning Microscope
Da-Wei Liu; 劉大瑋
電機工程學研究所
2019
用於微機電檢測之原子力顯微鏡探針定位及高效率掃描方法
AFM Tip Localization and Efficient Scanning Method Applicate in MEMS Inspection
Yi-Lin Liu; 劉逸霖
電機工程學研究所
2018
複合原子力顯微鏡與共軛焦雷射掃描顯微鏡之新式掃描
Novel Micro Scanning with Integrated Atomic Force Microscope and Confocal Laser Scanning Microscope
Meng-Hao Chou; 周孟皓
電機工程學研究所
2020
用於提升微機電側邊量測精準度之原子力顯微鏡新式掃描方法
Novel Enhancement of Steep Sidewall Scan in AFM for MEMS Inspection
Ching-Chi Huang; 黃靖期
電機工程學研究所
2022
應用可旋轉式探針和可變式掃描速度之新式原子力顯微鏡掃描方法
A New AFM Scanning Method with a Rotatable Probe and an Adaptive Scanning Speed Strategy
李盛安; Sheng-An Lee
電機工程學系
2023
整合旋轉平台與可旋轉探針於新型全向式原子力顯微鏡之高精度掃描
High Precision Scanning of a Novel Omnidirectional AFM Integrated with Rotating Stage and Rotatable Probe
魏向泓; Hsiang-Hung Wei
電機工程學系
2013
以利薩茹層疊式局部掃描實現高速大範圍之原子力顯微鏡
Based on Lissajous Hierarchical Local Scan to Realize High Speed and Large Range Atomic Force Microscopy
Jim-Wei Wu; 吳俊緯
電機工程學研究所
2007
新型原子力顯微鏡系統之設計與控制
Design and Control of Novel Atomic Force Microscope Systems
Shao-Kang Hung; 洪紹剛
電機工程學研究所
2014
自適傾角演算法於高精確雙探針原子力顯微鏡
Adaptive Tilting Angles to Achieve High-Precision Scanning of a Dual-Probe AFM
Yu-Ting Lo; 羅宇廷
電機工程學研究所
2013
光學顯微鏡輔助之大範圍原子力顯微鏡精密正弦式局部掃描
Precision Sinusoidal Local Scan for Large Range Atomic Force Microscopy with Auxiliary Optical Microscopy
Chih-Lieh Chen; 陳志烈
電機工程學研究所
探索
系所
9
電機工程學研究所
2
電機工程學系
學位
9
碩士
2
博士
指導教授
6
傅立成
5
傅立成(li-chen fu)
2
li-chen fu
作者
1
chih-lieh chen
1
ching-chi huang
1
da-wei liu
1
hsiang-hung wei
1
jim-wei wu
1
meng-hao chou
1
shao-kang hung
1
sheng-an lee
1
yi-lin liu
1
yi-ting lin
.
下一頁 >
關鍵字
5
atomic force microscope (afm)
3
atomic force microscopy
2
atomic force microscope (afm),con...
2
原子力顯微鏡,雙探針掃描
2
原子力顯微鏡,雷射共軛焦顯微鏡
1
afm
1
afm,sidewall distortion
1
afm,sidewall distortion,data dist...
1
afm,sidewall distortion,data dist...
1
afm,sidewall distortion,data dist...
.
下一頁 >
出版年
3
2020 - 2023
7
2010 - 2019
1
2007 - 2009
全文授權
8
有償授權
2
同意授權(全球公開)
1
同意授權(限校園內公開)