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2008
BCH碼之測試結果壓縮診斷技術
Test Response Compaction and Diagnosis using BCH code
Fang-Min Wang; 王方珉
電子工程學研究所
2008
降低測試功率之可測試設計與最小漏電流向量產生技術
A DfT and Minimum Leakage Pattern Generation Technique for Test Power Reduction
Wei-Chung Kao; 高瑋聰
電子工程學研究所
2007
同步縮減系統晶片測試資料量與測試時間之方法
Simultaneous Test Data Volume and Test Application Time Reduction for System-on-Chip
Bing-Chuan Bai; 白炳川
電子工程學研究所
2007
多重掃描鏈時序錯誤診斷
Diagnosis of Multiple Scan Chain Timing Faults
Wei-Shun Chuang; 莊惟舜
電子工程學研究所
2006
IEEE 1500標準測試封套產生和驗證及功率預估自動化工具之實現
Implementation of an IEEE 1500 Test Wrapper Generation, Validation and Power Estimation Tool
Po-Lin Wu; 吳柏霖
電子工程學研究所
2008
使用多重擷取時脈高速掃描測試圖樣的轉換錯誤診斷
Transition Fault Diagnosis Using At-Speed Scan Patterns with Multiple Capture Clocks
Shang-Feng Chao; 趙上鋒
電子工程學研究所
2008
N型非晶矽薄膜電晶體數位電路之極低電壓與靜態電流測試
Very-Low-Voltage and IDDQ Testing of Amorphous Silicon TFT Digital NMOS Circuits
Shiue-Tsung Shen; 沈學聰
電子工程學研究所
2008
液晶顯示器源極驅動器晶片上升時間以及下降時間測試的可測試性設計
A DfT Technique for Rise Time and Fall Time Testing of LCD Source Driver IC
Chih-He Lin; 林志和
電子工程學研究所
2015
考慮電源雜訊之測試資料分析與重建用於增進良率之方法
Power-Supply-Noise-Aware Test Pattern Analysis and Regeneration for Yield Improvement
Cheng-Yu Han; 韓承佑
電子工程學研究所
2020
qATG:量子電路測試產生技術
qATG: Automatic Test Generation for Quantum Circuits
Chen-Hung Wu; 吳辰鋐
電子工程學研究所
探索
系所
48
電子工程學研究所
指導教授
1
李建模(chien-mo li),黃俊郎(jiun-lang hu...
1
李建模(chien-mo li),黃俊郎(jiun-lang hu...
作者
1
ang-feng lin
1
bing-chuan bai
1
bo-hua chen
1
chen-hung wu
1
cheng-yu han
1
chi-jih shih
1
chi-lin lee
1
chia-cheng pai
1
chia-shao chen
1
chia-yuan chang
.
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關鍵字
5
非同步電路
4
非同步電路,雙軌邏輯
3
asynchronous circuits
3
dft
3
diagnosis
3
掃描鏈
3
非同步電路,雙軌邏輯,可測試設計
3
非同步電路,雙軌邏輯,可測試設計,自動測試圖樣產生器
2
asynchronous circuits,dual-rail l...
2
asynchronous circuits,dual-rail l...
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出版年
29
2010 - 2020
19
2005 - 2009
全文
48
true