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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
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2005 | 掃描鏈分割與重排之掃描鏈黏著性錯誤診斷技術 A Scan Chain Partition and Reordering Technique for Scan Chain Stuck-At Fault Diagnosis | Jhih-Kai You; 游智凱 | 電子工程學研究所 |
2005 | 行奇偶與列選擇:內建自我測試之多掃描鏈環境下多重錯誤之診斷技術 Column Parity and Row Selection (CPRS): A BIST Diagnosis Technique for Multiple Errors in Multiple Scan Chains | Hung-Mao Lin; 林鴻貿 | 電子工程學研究所 |
2005 | 單晶片電視調諧器其相位雜訊之經濟有效測試方法 Effective and Economic Phase Noise Testing Methodology for Single Chip TV Tuner | Po-Chou Lin; 林柏州 | 電子工程學研究所 |
2005 | 區段加權亂數低功率自我測試之基頻數位接收機之研製 Design and Implementation of A Low Power Self-Testable Baseband Receiver Using Segment Weighted Random BIST | Chun-Yi Lee; 李濬屹 | 電子工程學研究所 |
2005 | 使用於系統晶片中之兩階層式測試資料暨測試時間壓縮 A Two-level Test Data Compression and Test Time Reduction Technique for SOC | Yu-Te Liaw; 廖育德 | 電子工程學研究所 |