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符合的文件:
出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
---|---|---|---|
2007 | 同步縮減系統晶片測試資料量與測試時間之方法 Simultaneous Test Data Volume and Test Application Time Reduction for System-on-Chip | Bing-Chuan Bai; 白炳川 | 電子工程學研究所 |
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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
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2007 | 同步縮減系統晶片測試資料量與測試時間之方法 Simultaneous Test Data Volume and Test Application Time Reduction for System-on-Chip | Bing-Chuan Bai; 白炳川 | 電子工程學研究所 |