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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
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2015 | 一個0.4伏特單次存取能量消耗4.76微微焦耳11.6百萬赫芝1千位元靜態隨機存取記憶體具有提出的單端存取7個電晶體記憶單元並使用寫入與讀取偵測技術 A 400mV 4.76pJ/Access 11.6MHz 1Kb SRAM with Proposed Single-ended 7T Cell Using Write and Read Detecting Schemes | Po-Kai Hsieh; 謝柏凱 | 電子工程學研究所 |
2015 | 考慮電源雜訊之測試資料分析與重建用於增進良率之方法 Power-Supply-Noise-Aware Test Pattern Analysis and Regeneration for Yield Improvement | Cheng-Yu Han; 韓承佑 | 電子工程學研究所 |
2015 | 針對鰭式場效電晶體電路內跨邏輯閘錯誤之錯誤模擬器以及測試向量產生器 Fault Simulation and Test Pattern Generation for Cross-gate Defects in FinFET Circuits | Kuan-Ying Chiang; 江冠穎 | 電子工程學研究所 |
2015 | 針對雙軌非同步電路的兩組圖樣可測試設計與自動測試圖樣產生 DFT and ATPG of Two-pattern Tests for Dual-rail Asynchronous Circuits | Ying-Hsu Wang; 王英旭 | 電子工程學研究所 |
2015 | 使用新穎辭典並考慮實體資訊之多重缺陷診斷 Multiple Defect Physical-aware Diagnosis using Novel Dictionary | Po-Hao Chen; 陳柏豪 | 電子工程學研究所 |