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電子工程學研究所
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2007
同步縮減系統晶片測試資料量與測試時間之方法
Simultaneous Test Data Volume and Test Application Time Reduction for System-on-Chip
Bing-Chuan Bai; 白炳川
電子工程學研究所
探索
系所
1
電子工程學研究所
學位
1
碩士
作者
1
白炳川
關鍵字
1
computer-aided design
1
computer-aided design,vlsi testing
1
computer-aided design,vlsi testin...
1
computer-aided design,vlsi testin...
1
computer-aided design,vlsi testin...
1
computer-aided design,vlsi testin...
1
電腦輔助設計
1
電腦輔助設計,積體電路測試
1
電腦輔助設計,積體電路測試,可測試性設計
1
電腦輔助設計,積體電路測試,可測試性設計,系統晶片測試
.
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出版年
1
2007
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1
有償授權
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