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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
---|---|---|---|
2007 | 同步縮減系統晶片測試資料量與測試時間之方法 Simultaneous Test Data Volume and Test Application Time Reduction for System-on-Chip | Bing-Chuan Bai; 白炳川 | 電子工程學研究所 |
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系所
- 1 電子工程學研究所
學位
- 1 碩士
關鍵字
- 1 computer-aided design
- 1 computer-aided design,vlsi testing
- 1 computer-aided design,vlsi testin...
- 1 computer-aided design,vlsi testin...
- 1 computer-aided design,vlsi testin...
- 1 computer-aided design,vlsi testin...
- 1 computer-aided design,vlsi testin...
- 1 電腦輔助設計
- 1 電腦輔助設計,積體電路測試,可測試性設計
- 1 電腦輔助設計,積體電路測試,可測試性設計,系統晶片測試
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出版年
- 1 2007
全文授權
- 1 有償授權
全文
- 1 true