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電子工程學研究所
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第 31 到 40 筆結果,共 49 筆。
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2011
針對微小延遲缺陷選取緊密的測試向量
Compact Test Pattern Selection for Small Delay Defect
Chia-Yuan Chang; 張家源
電子工程學研究所
2005
單晶片電視調諧器其相位雜訊之經濟有效測試方法
Effective and Economic Phase Noise Testing Methodology for Single Chip TV Tuner
Po-Chou Lin; 林柏州
電子工程學研究所
2005
區段加權亂數低功率自我測試之基頻數位接收機之研製
Design and Implementation of A Low Power Self-Testable Baseband Receiver Using Segment Weighted Random BIST
Chun-Yi Lee; 李濬屹
電子工程學研究所
2005
使用於系統晶片中之兩階層式測試資料暨測試時間壓縮
A Two-level Test Data Compression and Test Time Reduction Technique for SOC
Yu-Te Liaw; 廖育德
電子工程學研究所
2013
運用圖形處理器之微小延遲缺陷錯誤模擬與測試向量選擇
Fault Simulation and Test Pattern Selection for Small Delay Defects Using GPU
Sheng-Chang Hsu; 許聖章
電子工程學研究所
2013
針對三維積體電路中電源網路內缺陷穿矽通孔之微小延遲錯誤之測試向量產生
Test Generation of Path Delay Faults Induced by Defect in Power TSV
Chi-Jih Shih; 施啟仁
電子工程學研究所
2016
針對測試壓縮的平行次序自動測試向量產生器
Parallel Order Automatic Test Pattern Generation for Test Compaction
Yu-Wei Chen; 陳佑維
電子工程學研究所
2014
利用圖形處理器高品質測試向量產生器
GPU-Based High Quality ATPG
Kuan-Yu Liao; 廖官榆
電子工程學研究所
2009
快速診斷組合邏輯與掃描鏈橋接錯誤之結構化簡技巧
Structure Reduction Techniques for Fast Logic-Chain Bridging Fault Diagnosis
Wei-Lin Tsai; 蔡維霖
電子工程學研究所
2010
相容於IEEE1500 之系統晶片除錯測試封套
An IEEE 1500 Compatible Test Wrapper for SoC Debug
Jheng-Yang Ciou; 邱証暘
電子工程學研究所
探索
系所
49
電子工程學研究所
學位
48
碩士
1
博士
指導教授
1
李建模(chien-mo li),黃俊郎(jiun-lang hu...
1
李建模(chien-mo li),黃俊郎(jiun-lang hu...
作者
1
ang-feng lin
1
bing-chuan bai
1
bo-hua chen
1
chen-hung wu
1
cheng-yu han
1
chi-jih shih
1
chi-lin lee
1
chia-cheng pai
1
chia-shao chen
1
chia-yuan chang
.
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關鍵字
5
非同步電路
4
非同步電路,雙軌邏輯
3
asynchronous circuits
3
dft
3
diagnosis
3
gpu
3
掃描鏈
3
非同步電路,雙軌邏輯,可測試設計
3
非同步電路,雙軌邏輯,可測試設計,自動測試圖樣產生器
2
asynchronous circuits,dual-rail l...
.
下一頁 >
出版年
30
2010 - 2020
19
2005 - 2009
全文
49
true