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電子工程學研究所
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第 11 到 19 筆結果,共 19 筆。
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出版年
標題
作者
系所
2005
行奇偶與列選擇:內建自我測試之多掃描鏈環境下多重錯誤之診斷技術
Column Parity and Row Selection (CPRS): A BIST Diagnosis Technique for Multiple Errors in Multiple Scan Chains
Hung-Mao Lin; 林鴻貿
電子工程學研究所
2009
包含未知訊號之測試結果壓縮設計
Test Response Compaction In The Presence Of Many Unknowns
Wei-Che Wang; 王偉哲
電子工程學研究所
2006
跳躍模擬:快速且精確之掃描鏈錯誤診斷技術
Jump Simulation: A Technique for Fast and Precise Scan Chain Fault Diagnosis
Yu-Long Kao; 高玉龍
電子工程學研究所
2008
嵌入式矽智財核心之IEEE 1500安全測試封套
Secured IEEE 1500 Test Wrapper for Embedded IP Cores
Geng-Ming Chiu; 邱畊銘
電子工程學研究所
2008
薄膜電晶體液晶顯示器源極驅動IC之輸出偏移電壓可測試設計
A DFT Technique for Output Offset Voltage Testing of TFT-LCD Source Driver IC
Chia-Shao Chen; 陳佳韶
電子工程學研究所
2005
單晶片電視調諧器其相位雜訊之經濟有效測試方法
Effective and Economic Phase Noise Testing Methodology for Single Chip TV Tuner
Po-Chou Lin; 林柏州
電子工程學研究所
2005
區段加權亂數低功率自我測試之基頻數位接收機之研製
Design and Implementation of A Low Power Self-Testable Baseband Receiver Using Segment Weighted Random BIST
Chun-Yi Lee; 李濬屹
電子工程學研究所
2005
使用於系統晶片中之兩階層式測試資料暨測試時間壓縮
A Two-level Test Data Compression and Test Time Reduction Technique for SOC
Yu-Te Liaw; 廖育德
電子工程學研究所
2009
快速診斷組合邏輯與掃描鏈橋接錯誤之結構化簡技巧
Structure Reduction Techniques for Fast Logic-Chain Bridging Fault Diagnosis
Wei-Lin Tsai; 蔡維霖
電子工程學研究所
探索
系所
19
電子工程學研究所
學位
19
碩士
作者
1
bing-chuan bai
1
bo-hua chen
1
chia-shao chen
1
chih-he lin
1
chun-yi lee
1
fang-min wang
1
geng-ming chiu
1
hung-mao lin
1
jhih-kai you
1
po-chou lin
.
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關鍵字
3
dft
3
掃描鏈
2
scan chain
2
可測試設計
2
掃描鏈,錯誤診斷
1
amorphous silicon
1
amorphous silicon,thin-film trans...
1
amorphous silicon,thin-film trans...
1
amorphous silicon,thin-film trans...
1
amorphous silicon,thin-film trans...
.
下一頁 >
出版年
2
2009
7
2008
2
2007
3
2006
5
2005
全文授權
19
有償授權
全文
19
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