瀏覽 的方式： 作者 Min-Hsin Liu
顯示 1 到 1 筆資料，總共 1 筆
| 出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
|---|---|---|---|
| 2025 | 於邏輯掃描測試培養中除錯及預防異常高的最小工作電壓 Debugging and Preventing Abnormally High Vmin during Logic Scan Test Bring-up | 劉旻鑫; Min-Hsin Liu | 電子工程學研究所 |
| 出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
|---|---|---|---|
| 2025 | 於邏輯掃描測試培養中除錯及預防異常高的最小工作電壓 Debugging and Preventing Abnormally High Vmin during Logic Scan Test Bring-up | 劉旻鑫; Min-Hsin Liu | 電子工程學研究所 |