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NTU Theses and Dissertations Repository
瀏覽 的方式: 作者 胡振國
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2009
碳化矽金氧半電容元件上新穎氧化矽與氧化鋁高介電常數閘極介電層
Novel SiO2 and Al2O3 High-K Gate Dielectrics on 4H-SiC MOS Capacitors
Chia-Ming Hsu; 許家銘
電子工程學研究所
2007
薄膜電晶體低溫介電質金氧半結構可靠度研究
Study on the Reliability of Metal-Oxide-Semiconductor (MOS) Structures with Low Temperature Dielectrics used in Thin-Film Transistors
Tung-Cung Wu; 吳東駿
電子工程學研究所
2012
超薄氧化層金氧半電容元件之深空乏特性分析、模型與應用
Characterization, Modeling and Application of Deep Depletion from MOS Capacitors with Ultrathin Oxides
Jen-Yuan Cheng; 鄭任遠
電子工程學研究所
2023
金屬-絕緣層-半導體穿隧二極體內部與外部耦合效應之研究
Investigation on Inner and Outer Charge Coupling Phenomena in Metal-Insulator-Semiconductor Tunneling Diodes
沈祐德; Yu-Te Shen
電子工程學研究所
2011
金氧半結構電容-電壓特性之深空乏現象
Deep Depletion Phenomenon in The C-V Characteristics of MOS Structure
Kuan-Ming Chen; 陳冠銘
電子工程學研究所
2023
閘極外圍氧化層移除之金氧半穿隧二極體之強化暫態電流行為及側向電流研究
Enhanced Transient Current Behavior and Lateral Current Investigation of MIS(p) Tunnel Diode by Oxide Removal at the Gate Edge Diodes
林軒毅; Hsuan-Yi Lin
電子工程學研究所
2018
閘極控制型金屬-絕緣層-半導體穿隧電晶體電流特性與機制之研究
Study of the Current-Voltage Characteristics and Mechanisms of Gate-Controlled Metal-Insulator-Semiconductor Tunnel Transistor
Chian-Hsiu Chan; 詹前修
電子工程學研究所
2014
陽極氧化法形成單晶矽奈米線及非平面矽基板金氧半電容元件之特性探討與光偵測器應用
Formation of Single Crystal Silicon Nanowire by Anodic Oxidation and Electrical Characterization of Non-planar substrate MOS Capacitors for Photo-detector Application
Po-Hao Tseng; 曾柏皓
電子工程學研究所