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出版年	標題	作者	系所
2024	qFD: 針對量子機器中相干和去極化錯誤的診斷方法 qFD: Coherent and Depolarizing Fault Diagnosis for Quantum Processors	李彥緯; Yen-Wei Li	電子工程學研究所
2025	使用SOMAC預測多核處理器的最小工作電壓以及最差核的最小工作電壓 Multi core Vmin and Worst core Vmin prediction using SOMAC	廖政毓; Jeng-Yu Liao	積體電路設計與自動化學位學程
2022	使用非破壞性壓力測試預測晶片最小工作電壓 Vmin Prediction Using Nondestructive Stress Test	陳淳; Chun Chen	電子工程學研究所
2023	利用子集關係進行系統性延遲錯誤診斷 Diagnosis of Systematic Delay Failures through Subset Relationship Analysis	謝秉翰; Bing-Han Hsieh	電子工程學研究所
2024	基於機器學習的自適應晶圓級測試以保留診斷信息 ML-based Adaptive Wafer Sort to Preserve Diagnostic Information	劉昀昇; Yun-Sheng Liu	電子工程學研究所
2024	基於蒙地卡羅樹搜尋增強式學習的邏輯考量量子繞線 LAUREL: Logic Dependency-Aware Qubit Routing via MCTS-Guided Reinforcement Learning	樊明膀; Ming-Bang Fan	電子工程學研究所
2025	於邏輯掃描測試培養中除錯及預防異常高的最小工作電壓 Debugging and Preventing Abnormally High Vmin during Logic Scan Test Bring-up	劉旻鑫; Min-Hsin Liu	電子工程學研究所
2024	神經形態晶片的低複雜度演算法測試生成 Low-Complexity Algorithmic Test Generation for Neuromorphic Chips	黃旭鈺; Hsu-Yu Huang	電子工程學研究所
2023	神經形態晶片的測試壓縮 Test Compression for Neuromorphic Chips	陳心屏; Xin-Ping Chen	電子工程學研究所
2022	診斷雙重故障掃描鏈透過錯誤位元分離 Diagnosing Double Faulty Chains through Failing Bit Separation	郭承賢; Cheng-Sian Kuo	電子工程學研究所

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