B介子衰變至兩個向量介子的分析

Abstract

在本論文中我們測量了 B 介子衰變至兩個向量介子（VV）的機率，包括 B0 → ρ0 ρ0，B0 → K*0 anti-K*0 以及 B0 → K*0 K*0。此次實驗的測量結果是根據由 Belle 偵測器所收集到約六億五千七百萬個 B 與 反 B 介子事件而得到。我們也另外測量了所有可能 B 介子衰變至 π+π-π+π-，K+π-K-π+ 以及 K+π-K+π- 最終態的機率。測量結果顯示這些衰變模式的機率分別為：B0 → ρ0 ρ0 的衰變機率小於 1.0 × 10-6；B0 → K*0 anti-K*0 的衰變機率小於 0.8 × 10-6；B0 → K*0 K*0 的衰變機率小於 0.2 × 10-6。根據 B0 → ρ0 ρ0 衰變機率的測量結果，我們進一步縮小了電荷宇稱破壞裡其中一個係數（φ2）的範圍到 91.7±14.9 度。此外，我們也發現 B 介子衰變有可能衰變到 ρ0π+π-，非共振態 π+π-π+π- 以及非共振態 K+π-π+π，因此我們也分別給出了這些 B 介子衰變模式的機率以及其上限。