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瀏覽的方式：作者 Yu-Chin Hsu

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出版年	標題	作者	系所
2012	以吉氏抽樣數值法鑑別影響半導體製造良率的關鍵機台組合 Identifying Tool Combinations Critical to Semiconductor Manufacturing Yield with Gibbs Sampler	*Yu-Chin Hsu; 徐鈺欽*	工業工程學研究所

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