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NTU Theses and Dissertations Repository
瀏覽 的方式: 作者 李建模(Chien-Mo Li)
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2008
BCH碼之測試結果壓縮診斷技術
Test Response Compaction and Diagnosis using BCH code
Fang-Min Wang; 王方珉
電子工程學研究所
2006
CRC:低峰值功率可測試技術設計
Complemented Response Cell (CRC) : A Low Peak Power design for Testability Technique
Bo-Hua Chen; 陳勃樺
電子工程學研究所
2006
IEEE 1500標準測試封套產生和驗證及功率預估自動化工具之實現
Implementation of an IEEE 1500 Test Wrapper Generation, Validation and Power Estimation Tool
Po-Lin Wu; 吳柏霖
電子工程學研究所
2008
N型非晶矽薄膜電晶體數位電路之極低電壓與靜態電流測試
Very-Low-Voltage and IDDQ Testing of Amorphous Silicon TFT Digital NMOS Circuits
Shiue-Tsung Shen; 沈學聰
電子工程學研究所
2020
qATG:量子電路測試產生技術
qATG: Automatic Test Generation for Quantum Circuits
Chen-Hung Wu; 吳辰鋐
電子工程學研究所
2015
一個0.4伏特單次存取能量消耗4.76微微焦耳11.6百萬赫芝1千位元靜態隨機存取記憶體具有提出的單端存取7個電晶體記憶單元並使用寫入與讀取偵測技術
A 400mV 4.76pJ/Access 11.6MHz 1Kb SRAM with Proposed Single-ended 7T Cell Using Write and Read Detecting Schemes
Po-Kai Hsieh; 謝柏凱
電子工程學研究所
2008
使用多重擷取時脈高速掃描測試圖樣的轉換錯誤診斷
Transition Fault Diagnosis Using At-Speed Scan Patterns with Multiple Capture Clocks
Shang-Feng Chao; 趙上鋒
電子工程學研究所
2015
使用新穎辭典並考慮實體資訊之多重缺陷診斷
Multiple Defect Physical-aware Diagnosis using Novel Dictionary
Po-Hao Chen; 陳柏豪
電子工程學研究所
2005
使用於系統晶片中之兩階層式測試資料暨測試時間壓縮
A Two-level Test Data Compression and Test Time Reduction Technique for SOC
Yu-Te Liaw; 廖育德
電子工程學研究所
2020
使用累積學習預測生產測試中晶片的最小工作電壓
Minimum Operating Voltage Prediction in Production Test Using Accumulative Learning
Yen-Ting Kuo; 郭彥庭
電子工程學研究所
2012
利用代表性隨機漫步演算法應用於全速測試之暫態電壓降分析
Transient IR-drop Analysis for At-speed Testing Using Representative Random Walk
Ming-Hong Tsai; 蔡旻宏
電子工程學研究所
2014
利用圖形處理器高品質測試向量產生器
GPU-Based High Quality ATPG
Kuan-Yu Liao; 廖官榆
電子工程學研究所
2009
包含未知訊號之測試結果壓縮設計
Test Response Compaction In The Presence Of Many Unknowns
Wei-Che Wang; 王偉哲
電子工程學研究所
2005
區段加權亂數低功率自我測試之基頻數位接收機之研製
Design and Implementation of A Low Power Self-Testable Baseband Receiver Using Segment Weighted Random BIST
Chun-Yi Lee; 李濬屹
電子工程學研究所
2007
同步縮減系統晶片測試資料量與測試時間之方法
Simultaneous Test Data Volume and Test Application Time Reduction for System-on-Chip
Bing-Chuan Bai; 白炳川
電子工程學研究所
2005
單晶片電視調諧器其相位雜訊之經濟有效測試方法
Effective and Economic Phase Noise Testing Methodology for Single Chip TV Tuner
Po-Chou Lin; 林柏州
電子工程學研究所
2020
在大量生產晶片中診斷系統性維持時間錯誤
Systematic Hold-time Fault Diagnosis of Production Chips
Chih-Yan Liu; 劉治硯
電子工程學研究所
2022
在雜訊中等規模量子世代之量子電路診斷
Diagnosis of Quantum Circuits in the NISQ Era
Yu-Min Li; 李育旻
電子工程學研究所
2013
基於連續弦方法之多重電路模擬
MUSIC: A Multi-Circuit Simulator based on the Successive Chord Method
Hung-Yi Li; 李泓頤
電子工程學研究所
2007
多重掃描鏈時序錯誤診斷
Diagnosis of Multiple Scan Chain Timing Faults
Wei-Shun Chuang; 莊惟舜
電子工程學研究所