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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
---|---|---|---|
2013 | 用於降低平均電壓降之測試向量修改 Test Pattern Modification for Average IR-drop Reduction | Wei-Sheng Ding; 丁瑋陞 | 電子工程學研究所 |
出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
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2013 | 用於降低平均電壓降之測試向量修改 Test Pattern Modification for Average IR-drop Reduction | Wei-Sheng Ding; 丁瑋陞 | 電子工程學研究所 |