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出版年	標題	作者	系所
2008	BCH碼之測試結果壓縮診斷技術 Test Response Compaction and Diagnosis using BCH code	Fang-Min Wang; 王方珉	電子工程學研究所
2006	CRC:低峰值功率可測試技術設計 Complemented Response Cell (CRC) : A Low Peak Power design for Testability Technique	Bo-Hua Chen; 陳勃樺	電子工程學研究所
2006	IEEE 1500標準測試封套產生和驗證及功率預估自動化工具之實現 Implementation of an IEEE 1500 Test Wrapper Generation, Validation and Power Estimation Tool	Po-Lin Wu; 吳柏霖	電子工程學研究所
2008	N型非晶矽薄膜電晶體數位電路之極低電壓與靜態電流測試 Very-Low-Voltage and IDDQ Testing of Amorphous Silicon TFT Digital NMOS Circuits	Shiue-Tsung Shen; 沈學聰	電子工程學研究所
2020	qATG:量子電路測試產生技術 qATG: Automatic Test Generation for Quantum Circuits	Chen-Hung Wu; 吳辰鋐	電子工程學研究所
2015	一個0.4伏特單次存取能量消耗4.76微微焦耳11.6百萬赫芝1千位元靜態隨機存取記憶體具有提出的單端存取7個電晶體記憶單元並使用寫入與讀取偵測技術 A 400mV 4.76pJ/Access 11.6MHz 1Kb SRAM with Proposed Single-ended 7T Cell Using Write and Read Detecting Schemes	Po-Kai Hsieh; 謝柏凱	電子工程學研究所
2018	使用在工程變更命令上以機器學習為基的動態電路壓降預測 Machine-learning-based Dynamic IR Drop Prediction for ECO	Yen-Chun Fang; 方彥鈞	電子工程學研究所
2008	使用多重擷取時脈高速掃描測試圖樣的轉換錯誤診斷 Transition Fault Diagnosis Using At-Speed Scan Patterns with Multiple Capture Clocks	Shang-Feng Chao; 趙上鋒	電子工程學研究所
2021	使用快速預測器做低電壓降測試圖樣重新產生 Low-IR-drop Test Pattern Regeneration Using A Fast Predictor	Shi-Tang Liu; 劉世棠	電子工程學研究所
2015	使用新穎辭典並考慮實體資訊之多重缺陷診斷 Multiple Defect Physical-aware Diagnosis using Novel Dictionary	Po-Hao Chen; 陳柏豪	電子工程學研究所
2005	使用於系統晶片中之兩階層式測試資料暨測試時間壓縮 A Two-level Test Data Compression and Test Time Reduction Technique for SOC	Yu-Te Liaw; 廖育德	電子工程學研究所
2020	使用累積學習預測生產測試中晶片的最小工作電壓 Minimum Operating Voltage Prediction in Production Test Using Accumulative Learning	Yen-Ting Kuo; 郭彥庭	電子工程學研究所
2012	利用代表性隨機漫步演算法應用於全速測試之暫態電壓降分析 Transient IR-drop Analysis for At-speed Testing Using Representative Random Walk	Ming-Hong Tsai; 蔡旻宏	電子工程學研究所
2014	利用圖形處理器高品質測試向量產生器 GPU-Based High Quality ATPG	Kuan-Yu Liao; 廖官榆	電子工程學研究所
2021	利用測試故障群聚與重組改進大量診斷與偵錯 Improving Volume Diagnosis and Debug with Test Failure Clustering and Reorganization	Mu-Ting Wu; 吳牧庭	電子工程學研究所
2009	包含未知訊號之測試結果壓縮設計 Test Response Compaction In The Presence Of Many Unknowns	Wei-Che Wang; 王偉哲	電子工程學研究所
2005	區段加權亂數低功率自我測試之基頻數位接收機之研製 Design and Implementation of A Low Power Self-Testable Baseband Receiver Using Segment Weighted Random BIST	Chun-Yi Lee; 李濬屹	電子工程學研究所
2007	同步縮減系統晶片測試資料量與測試時間之方法 Simultaneous Test Data Volume and Test Application Time Reduction for System-on-Chip	Bing-Chuan Bai; 白炳川	電子工程學研究所
2005	單晶片電視調諧器其相位雜訊之經濟有效測試方法 Effective and Economic Phase Noise Testing Methodology for Single Chip TV Tuner	Po-Chou Lin; 林柏州	電子工程學研究所
2020	在大量生產晶片中診斷系統性維持時間錯誤 Systematic Hold-time Fault Diagnosis of Production Chips	Chih-Yan Liu; 劉治硯	電子工程學研究所

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瀏覽的方式：指導教授李建模(Chien-Mo Li)

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