瀏覽 的方式: 作者 Chien-Mo Li
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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
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2024 | qFD: 針對量子機器中相干和去極化錯誤的診斷方法 qFD: Coherent and Depolarizing Fault Diagnosis for Quantum Processors | 李彥緯; Yen-Wei Li | 電子工程學研究所 |
2022 | 使用非破壞性壓力測試預測晶片最小工作電壓 Vmin Prediction Using Nondestructive Stress Test | 陳淳; Chun Chen | 電子工程學研究所 |
2023 | 利用子集關係進行系統性延遲錯誤診斷 Diagnosis of Systematic Delay Failures through Subset Relationship Analysis | 謝秉翰; Bing-Han Hsieh | 電子工程學研究所 |
2024 | 神經形態晶片的低複雜度演算法測試生成 Low-Complexity Algorithmic Test Generation for Neuromorphic Chips | 黃旭鈺; Hsu-Yu Huang | 電子工程學研究所 |
2023 | 神經形態晶片的測試壓縮 Test Compression for Neuromorphic Chips | 陳心屏; Xin-Ping Chen | 電子工程學研究所 |
2022 | 診斷雙重故障掃描鏈透過錯誤位元分離 Diagnosing Double Faulty Chains through Failing Bit Separation | 郭承賢; Cheng-Sian Kuo | 電子工程學研究所 |