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http://tdr.lib.ntu.edu.tw/jspui/handle/123456789/81866| 標題: | "於電化學控制下研究1,4 二乙炔基苯及其衍生物之單分子電性:單分子接合點的費米能階釘札效應" "Single-molecule Conduction of 1,4-Diethynylbenzene and its Derivatives under Electrochemical Control: Fermi-level Pinning Effect in Single-molecule Junctions " |
| 作者: | Hsing-Kai Shu 蘇新凱 |
| 指導教授: | 陳俊顯 |
| 關鍵字: | 掃描穿隧顯微術破裂接合法,1,4 二乙炔基苯,費米能階釘札效應,單分子電性,單分子導電值, STM BJ,break junction,Fermi level pinning,1,4-Diethynylbenzene, |
| 出版年 : | 2021 |
| 學位: | 碩士 |
| 摘要: | "在分子電子學之金屬電極-分子-金屬電極接合點(metal-molecule-metal junction, MMM junction)的架構中,費米能階釘札效應(Fermi-level pinning effect)係指電極的費米能階(Fermi level, EF)與分子的前緣分子軌域能階(frontier molecular orbital level, EFMO)之間的能量差(ε),其難以在EF改變時而改變,亦即此能量差幾為定值。上述現象為分子電子學的一大難題。 本研究以「分子修飾亞甲基團(methylene, -CH2-)」的設計概念,嘗試解決費米能階釘札效應。以1,4二乙炔基苯(OPE1)分子為研究對象,合成兩種OPE1的衍生物,OPE1-1C與OPE1-2C,係在OPE1的乙炔頭基(anchor)上修飾一單元及兩單元的亞甲基團。預期亞甲基團能有效減少電極與OPE1之間的交互作用,進而減少費米能階釘札效應。本研究藉由「改變工作電位(working potential, Vwk)調整EF」的方式,獲取於不同Vwk下的單分子導電值。導電值上升(或下降)越多,代表EF接近(或遠離) EFMO。本研究運用電化學控制-掃描穿隧顯微術破裂接合法(electrochemical STM break junction, EC-STM BJ)及電流-工作電位掃描量測法(i-Vwk),量測不同Vwk下的單分子導電值,再運用藍道爾公式(Landauer formula)擬合i-Vwk的曲線獲得ε隨Vwk變化關係,驗證亞甲基的修飾能否降低費米能階釘札效應。 本研究定量該效應為「1+(Δε/ΔVwk)」(%)。模型擬合的結果顯示,OPE1-2C與OPE1的費米能階釘札效應的比值約為0.7,具有兩個亞甲基單位的OPE1-2C分子接合點,其費米能階釘札效應比OPE1者減少約30%。" |
| URI: | http://tdr.lib.ntu.edu.tw/jspui/handle/123456789/81866 |
| DOI: | 10.6342/NTU202101078 |
| 全文授權: | 同意授權(全球公開) |
| 電子全文公開日期: | 2026-06-23 |
| 顯示於系所單位: | 化學系 |
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| 檔案 | 大小 | 格式 | |
|---|---|---|---|
| U0001-2106202115150400.pdf 此日期後於網路公開 2026-06-23 | 6.19 MB | Adobe PDF |
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