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  1. NTU Theses and Dissertations Repository
  2. 電機資訊學院
  3. 電機工程學系
請用此 Handle URI 來引用此文件: http://tdr.lib.ntu.edu.tw/jspui/handle/123456789/79399
標題: 使用者介面延遲測量與過度繪製檢測於手機應用程式效能測試
UI latency Measurement and Overdraw Detection in Performance Testing of Mobile Applications
作者: Wen-Hua Wang
王文樺
指導教授: 王凡
關鍵字: 自動化測試,黑箱測試,介面延遲,過度繪製,
automated testing,black-box testing,UI latency,overdraw,
出版年 : 2021
學位: 碩士
摘要: 隨著行動裝置的普及,使用手機App已經成為現代人日常生活的一部份,App的市場也日益競爭,其中對效能的要求也更加重要,不好的效能會嚴重的影響使用者體驗,本篇論文針對下列兩個效能測試的議題,各提出一個新的解決方案: 1.使用者介面延遲測量:以往的開發者假設要測量應用程式中各個動作的延遲,需要進行程式的插裝,也就是在目的程式中加入額外指令來收集需要的資訊,但這種測量的方式會花費開發者很大的心力,而測量出的時間也不能完全代表使用者在真實的情境下所花費的時間,本篇論文提出了一種基於影像且非侵入式的黑箱測試方法來測量手機App的使用者介面延遲。 2.過度繪製檢測:當應用程式中有重複背景的設計時,儘管使用者最終只會看到最上層的顏色,但其實這種設計會消耗GPU的資源,嚴重時可能會導致掉幀以至於降低使用者體驗,本篇論文提出了一種自動化的過度繪製檢測技術,並產生測試報告告知開發者多餘的重複背景出現的區域。
URI: http://tdr.lib.ntu.edu.tw/jspui/handle/123456789/79399
DOI: 10.6342/NTU202103996
全文授權: 同意授權(全球公開)
顯示於系所單位:電機工程學系

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