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2007
掃描探針顯微術在半導體及壓電材料上奈米尺度的光電現象研究
NANOSCALE ELECTRIC AND OPTICAL PHENOMENA IN SEMICONDUCTORS AND PIEZOELECTRIC MATERIALS INVESTIGATED BY SCANNING PROBE MICROSCOPY
Wei-Sheng Su; 蘇偉盛
物理研究所
2007
彎曲式與扭曲式原子力顯微術之研究與應用
Study and Applications of Flexural mode and Torsional mode Atomic Force Microscopy
Chih-Wen Yang; 楊志文
物理研究所
探索
系所
2
物理研究所
指導教授
1
蔡定平(din-pin tsai)
1
陳永芳(yang-fang chen)
作者
1
chih-wen yang
1
wei-sheng su
1
楊志文
1
蘇偉盛
關鍵字
1
afm
1
afm,efm
1
afm,efm,inn
1
afm,efm,inn,gan
1
afm,efm,inn,gan,piezoelectric effect
1
afm,efm,inn,gan,piezoelectric eff...
1
afm,efm,inn,gan,piezoelectric eff...
1
atomic force microscopy
1
atomic force microscopy,amplitude...
1
atomic force microscopy,amplitude...
.
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出版年
2
2007
全文授權
2
有償授權
全文
2
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