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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
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2007 | 掃描探針顯微術在半導體及壓電材料上奈米尺度的光電現象研究 NANOSCALE ELECTRIC AND OPTICAL PHENOMENA IN SEMICONDUCTORS AND PIEZOELECTRIC MATERIALS INVESTIGATED BY SCANNING PROBE MICROSCOPY | Wei-Sheng Su; 蘇偉盛 | 物理研究所 |