請用此 Handle URI 來引用此文件：
http://tdr.lib.ntu.edu.tw/jspui/handle/123456789/63398完整後設資料紀錄
| DC 欄位 | 值 | 語言 |
|---|---|---|
| dc.contributor.advisor | 陳俊顯(Chun-hsien Chen) | |
| dc.contributor.author | Hao-Cheng Lu | en |
| dc.contributor.author | 呂浩誠 | zh_TW |
| dc.date.accessioned | 2021-06-16T16:39:15Z | - |
| dc.date.available | 2015-10-12 | |
| dc.date.copyright | 2012-10-12 | |
| dc.date.issued | 2012 | |
| dc.date.submitted | 2012-09-19 | |
| dc.identifier.citation | (1) Brenner, A. E. Science 1997, 275, 1551.
(2) Packan, P. A. Science 1999, 285, 2079-2081. (3) Lundstrom, M. Science 2003, 299, 210-211. (4) Aviram, A.; Ratner, M. A. Chem. Phys. Lett. 1974, 29, 277-283. (5) Metzger, R. M. Chem. Rev. 2003, 103, 3803-3834. (6) Salomon, B. A.; Cahen, D.; Lindsay, S.; Tomfohr, J.; Engelkes, V. B.; Frisbie, C. D. Adv. Mater. 2003, 15, 1881-1890. (7) Xiao, X.; Nagahara, L. A.; Rawlett, A. M.; Tao, N. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 9235-9240. (8) Xu, B.; Xiao, X.; Yang, X.; Zang, L.; Tao, N. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 2386-2387. (9) Liu, K.; Wang, X.; Wang, F. ACS Nano 2008, 2, 2315-2323. (10) Slinker, J. D.; Muren, N. B.; Renfrew, E.; Barton, J. K. Nature Chem. 2011, 3, 228-233. (11) Ashwell, G. J.; Urasinska, B.; Wang, C.; Bryce, M. R.; Grace, I.; Lambert, C. J. Chem. Commun. 2006, 4706-4708. (12) Sedghi, G.; Sawada, K.; Esdaile, L. J.; Hoffmann, M.; Anderson, H. L.; Bethell, D.; Haiss, W.; Higgins, S. J.; Nichols, R. J. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 8582-8583. (13) Kiguchi, M.; Takahashi, T.; Kanehara, M.; Teranishi, T.; Murakoshi, K. J. Phys. Chem. C 2009, 113, 9014-9017. (14) Wang, N.; Liu, H.; Zhao, J.; Cui, Y.; Xu, Z.; Ye, Y.; Kiguchi, M.; Murakoshi, K. J. Phys. Chem. C 2009, 113, 7416-7423. (15) Chen, I.-W. P.; Fu, M.-D.; Tseng, W.-H.; Yu, J.-Y.; Wu, S.-H.; Ku, C.-J.; Chen, C.-h.; Peng, S.-M. Angew. Chem. Int. Ed. 2006, 45, 5814-5818. (16) Xu, B.; Tao, N. J. Science 2003, 301, 1221-1223. (17) Xu, B. Q.; Li, X. L.; Xiao, X. Y.; Sakaguchi, H.; Tao, N. J. Nano Lett. 2005, 5, 1491-1495. (18) Venkataraman, L.; Klare, J. E.; Nuckolls, C.; Hybertsen, M. S.; Steigerwald, M. L. Nature 2006, 442, 904-907. (19) Chang, H.-C.; Li, J.-T.; Wang, C.-C.; Lin, T.-W.; Lee, H.-C.; Lee, G.-H.; Peng, S.-M. Eur. J. Inorg. Chem. 1999, 1243-1251. (20) Donhauser, Z. J.; Mantooth, B. A.; Kelly, K. F.; Bumm, L. A.; Monnell, J. D.; Stapleton, J. J.; Price Jr., D. W.; Rawlett, A. M.; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. Science 2001, 292, 2303-2307. (21) Lewis, P. A.; Inman, C. E.; Maya, F.; Tour, J. M.; Hutchison, J. E.; Weiss, P. S. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 17421-17426. (22) Odell, A.; Delin, A.; Johansson, B.; Rungger, I.; Sanvito, S. ACS Nano 2010, 4, 2635-2642. (23) Tam, E. S.; Parks, J. J.; Shum, W. W.; Zhong, Y.-W.; Santiago-Berrios, M. E. B.; Yang, X. Z. W.; Chan, G. K.-L.; Abruna, H. D.; Ralph, D. C. ACS Nano 2011, 5, 5115-5123. (24) Uchida, K.; Yamanoi, Y.; Yonezawa, T.; Nishihara, H. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 9239-9241. (25) He, J.; Chen, F.; Liddell, P.; Andreasson, J.; Straight, S. D.; Gust, D.; Moore, T. A.; Moore, A. L.; Li, J.; Sankey, O. F.; Lindsay, S. M. Nanotechnology 2005, 16, 695-702. (26) Kumar, A. S.; Ye, T.; Takami, T.; Yu, B.-C.; Flatt, A. K.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. Nano Lett. 2008, 8, 1644-1648. (27) Zheng, Y. B.; Payton, J. L.; Chung, C.-H.; Liu, R.; Cheunkar, S.; Pathem, B. K.; Yang, Y.; Jensen, L.; Weiss, P. S. Nano Lett. 2011, 11, 3447-3452. (28) Dulić, D.; van der Molen, S. J.; Kudernac, T.; Jonkman, H. T.; de Jong, J. J. D.; Bowden, T. N.; van Esch, J.; Feringa, B. L.; van Wees, B. J. Phys. Rev. Lett. 2003, 91, 207402. (29) Martin, S.; Haiss, W.; Higgins, S. J.; Nichols, R. J. Nano Lett. 2010, 10, 2019-2023. (30) Leary, E.; Higgins, S. J.; van Zalinge, H.; Haiss, W.; Nichols, R. J.; Nygaard, S.; Jeppesen, J. O.; Ulstrup, J. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 12204-12205. (31) Bumm, L. A.; Arnold, J. J.; Cygan, M. T.; Dunbar, T. D.; Burgin, T. P.; Jones II, L.; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. Science 1996, 271, 1705-1707. (32) Reed, M. A.; Zhou, C.; Muller, C. J.; Burgin, T. P.; Tour, J. M. Science 1997, 278, 252-255. (33) Cui, X. D.; Primak, A.; Zarate, X.; Tomfohr, J.; Sankey, O. F.; Moore, A. L.; Moore, T. A.; Gust, D.; Harris, G.; Lindsay, S. M. Science 2003, 294, 571-574. (34) Morita, T.; Lindsay, S. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 7262-7263. (35) Ohnishi, H.; Kondo, Y.; Takayanagi, K. Science 1998, 395, 780-783. (36) Haiss, W.; van Zalinge, H.; Higgins, S. J.; Bethell, D.; Hobenreich, H.; Schiffrin, D. J.; Nichols, R. J. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 15294-15295. (37) Nichols, R. J.; Haiss, W.; Higgins, S. J.; Leary, E.; Martin, S.; Bethell, D. Phys. Chem. Chem. Phys. 2010, 12, 2801-2815. (38) Haiss, W.; Nichols, R. J.; van Zalinge, H.; Higgins, S. J.; Bethell, D.; Schiffrin, D. J. Phys. Chem. Chem. Phys. 2004, 6, 4330-4337. (39) Liang, W.; Shores, M. P.; Bockrath, M.; Long, J. R.; Park, H. Nature 2002, 417, 725-729. (40) Park, J.; Pasupathy, A. N.; Goldsmith, J. I.; Chang, C.; Yaish, Y.; Petta, J. R.; Rinkoski, M.; Sethna, J. P.; Abruna, H. D.; McEuen, P. L.; Ralph, D. C. Nature 2002, 417, 722-725. (41) Slowinski, K.; Fong, H. K. Y.; Majda, M. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 7257-7261. (42) Eng, M. P.; Albinsson, B. Angew. Chem. Int. Ed. 2006, 45, 5626-5629. (43) Moth-Poulsen, K.; Patrone, L.; Stuhr-Hansen, N.; Christensen, J. B.; Bourgoin, J.-P.; Bjornholm, T. Nano Lett. 2005, 5, 783-785. (44) Sedghi, G.; Esdaile, L. J.; Anderson, H. L.; Martin, S.; Bethell, D.; Higgins, S. J.; Nichols, R. J. Adv. Mater. 2012, 24, 653-657. (45) Landauer, R. J. Phys. Condes. Matter. 1989, 1, 8099-8110. (46) Li, X.; He, J.; Hihath, J.; Xu, B.; Lindsay, S. M.; Tao, N. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 2135-2141. (47) Li, C.; Pobelov, I.; Wandlowski, T.; Bagrets, A.; Arnold, A.; Evers, F. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 318-326. (48) Chen, F.; Li, X.; Hihath, J.; Huang, Z.; Tao, N. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 15874-15881. (49) Park, Y. S.; Whalley, A. C.; Kamenetska, M.; Steigerwald, M. L.; Hybertsen, M. S.; Nuckolls, C.; Venkataraman, L. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 15768-15769. (50) Fu, M.-D.; Chen, I.-W. P.; Lu, H.-C.; Kuo, C.-T.; Tseng, W.-H.; Chen, C.-h. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 11450-11455. (51) Ulrich, J.; Esrail, D.; Pontius, W.; Venkataraman, L.; Millar, D.; Doerrer, L. H. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 2462-2466. (52) Woitellier, S.; Launay, J. P.; Joachim, C. Chem. Phys. 1989, 131, 481-488. (53) Vonlanthen, D.; Mishchenko, A.; Elbing, M.; Neuburger, M.; ThomasWandlowski; Mayor, M. Angew. Chem. Int. Ed. 2009, 48, 8886-8890. (54) Mishchenko, A.; Vonlanthen, D.; Meded, V.; Burkle, M.; Li, C.; Pobelov, I. V.; Bagrets, A.; Viljas, J. K.; Pauly, F.; Evers, F.; Mayor, M.; Wandlowski, T. Nano Lett. 2010, 10, 156-163. (55) Mishchenko, A.; Zotti, L. A.; Vonlanthen, D.; Burkle, M.; Pauly, F.; Cuevas, J. C.; Mayor, M.; Wandlowski, T. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 184-187. (56) Cui, L.; Liu, B.; Vonlanthen, D.; Mayor, M.; Fu, Y.; Li, J.-F.; Wandlowski, T. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 7332-7335. (57) Wu, S.; Gonzalez, M. T.; Huber, R.; Grunder, S.; Mayor, M.; Schonenberger, C.; Calame, M. Nature Nanotechnology 2008, 3, 569-574. (58) Martin, S.; Grace, I.; Bryce, M. R.; Wang, C.; Jitchati, R.; Batsanov, A. S.; Higgins, S. J.; Lambert, C. J.; Nichols, R. J. J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 9157-9164. (59) Venkataraman, L.; Park, Y. S.; Whalley, A. C.; Nuckolls, C.; Hybertsen, M. S.; Steigerwald, M. L. Nano Lett. 2007, 7, 502-506. (60) Xiao, X.; Xu, B.; Tao, N. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 5370-5371. (61) Cao, H.; Jiang, J.; Ma, J.; Luo, Y. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 6674-6675. (62) McCreery, R. L. Chem. Mater. 2004, 16, 4477-4496. (63) Beebe, J. M.; Engelkes, V. B.; Miller, L. L.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 11268-11269. (64) Engelkes, V. B.; Beebe, J. M.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 14287-14296. (65) Ko, C.-H.; Huang, M.-J.; Fu, M.-D.; Chen, C.-h. J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 756-764. (66) Kim, B.; Beebe, J. M.; Jun, Y.; Zhu, X.-Y.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 4970-4971. (67) Hansch, C.; Leo, A.; Taft, R. W. Chem. Rev. 1991, 91, 165-195. (68) Haiss, W.; van Zalinge, H.; Bethell, D.; Ulstrup, J.; Schiffrin, D. J.; Nichols, R. J. Faraday Discuss. 2006, 131, 253-264. (69) Chi, Q.; Zhang, J.; Jensen, P. S.; Christensen, H. E. M.; Ulstrup, J. Faraday Discuss. 2006, 131, 181-195. (70) Albrecht, T.; Guckian, A.; Ulstrup, J.; Vos, J. G. Nano Lett. 2005, 5, 1451-1455. (71) Albrecht, T.; Moth-Poulsen, K.; Christensen, J. B.; Guckian, A.; Bjornholm, T.; Vos, J. G.; Ulstrup, J. Faraday Discuss. 2006, 131, 265-279. (72) Albrecht, T.; Guckian, A.; Kuznetsov, A. M.; Vos, J. G.; Ulstrup, J. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 17132-17138. (73) Albrecht, T.; Mertens, S. F. L.; Ulstrup, J. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 9162-9167. (74) Haiss, W.; Albrecht, T.; van Zalinge, H.; Higgins, S. J.; Bethell, D.; Hobenreich, H.; Schiffrin, D. J.; Nichols, R. J.; Kuznetsov, A. M.; Zhang, J.; Chi, Q.; Ulstrup, J. J. Phys. Chem. B 2007, 111, 6703-6712. (75) Zhang, J.; Kuznetsov, A. M.; Medvedev, I. G.; Chi, Q.; Albrecht, T.; Jensen, P. S.; Ulstrup, J. Chem. Rev. 2008, 108, 2737-2791. (76) Chen, F.; He, J.; Nuckolls, C.; Roberts, T.; Klare, J. E.; Lindsay, S. Nano Lett. 2005, 5, 503-506. (77) Chen, F.; Nuckolls, C.; Lindsay, S. Chem. Phys. 2006, 324, 236-243. (78) He, J.; Fu, Q.; Lindsay, S.; Ciszek, J. W.; Tour, J. M. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 14828-14835. (79) Visoly-Fisher, I.; Daie, K.; Terazono, Y.; Herrero, C.; Fungo, F.; Otero, L.; Durantini, E.; Silber, J. J.; Sereno, L.; Gust, D.; Moore, T. A.; Moore, A. L.; Lindsay, S. M. Proc. Natl. Acad. Sci. USA 2006, 103, 8686-8690. (80) He, J.; Chen, F.; Lindsay, S. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 072112. (81) Li, X.; Xu, B.; Xiao, X.; Yang, X.; Zang, L.; Tao, N. Faraday Discuss. 2005, 131, 111-120. (82) Li, X.; Hihath, J.; Chen, F.; Masuda, T.; Zang, L.; Tao, N. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 11535-11542. (83) Hihath, J.; Chen, F.; Zhang, P.; Tao, N. J. Phys.: Condens. Matter 2007, 19, 215202-215210. (84) Darwish, N.; Diez-Perez, I.; Silva, P. D.; Tao, N.; Gooding, J. J.; Paddon-Row, M. N. Angew. Chem. Int. Ed. 2012, 51, 3203-3206. (85) Meszaros, G.; Kronholz, S.; Karthauser, S.; Mayer, D.; Wandlowski, T. Appl. Phys. A 2007, 87, 569-575. (86) Li, C.; Mishchenko, A.; Li, Z.; Pobelov, I.; Wandlowski, T.; Li, X. Q.; Wurthner, F.; Bagrets, A.; Evers, F. J. Phys.: Condens. Matter 2008, 20, 374122-374132. (87) Li, Z.; Liu, Y.; Mertens, S. F. L.; Pobelov, I. V.; Wandlowski, T. J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 8187-8193. (88) Xiao, X.; Brune, D.; He, J.; Lindsay, S.; Gorman, C. B.; Tao, N. Chem. Phys. 2006, 326, 138-143. (89) Kuznetsov, A. M.; Ulstrup, J. J. Phys. Chem. A 2000, 104, 11531-11540. (90) Pobelov, I. V.; Li, Z.; Wandlowski, T. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 16045-16054. (91) Tao, N. J. Phys. Rev. Lett. 1996, 76, 4066. (92) Tsoi, S.; Griva, I.; Trammell, S. A.; Blum, A. S.; Schnur, J. M.; Lebedev, N. ACS Nano 2008, 2, 1289-1295. (93) Ricci, A. M.; Calvo, E. J.; Martin, S.; Nichols, R. J. J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 2494-2495. (94) Pia, E. A. D.; Chi, Q.; Jones, D. D.; Macdonald, J. E.; Ulstrup, J.; Elliott, M. Nano Lett. 2011, 11, 176-182. (95) Mahapatro, A. K.; Ying, J.; Ren, T.; Janes, D. B. Nano Lett. 2008, 8, 2131-2136. (96) Haiss, W.; Albrecht, T.; van Zalinge, H.; Higgins, S. J.; Bethell, D.; Hobenreich, H.; Schiffrin, D. J.; Nichols, R. J.; Kuznetsov, A. M.; Zhang, J.; Chi, Q.; Ulstrup, J. J. Phys. Chem. B 2007, 111, 6703. (97) Song, H.; Kim, Y.; Jang, Y. H.; Jeong, H.; Reed, M. A.; Lee, T. Nature 2009, 462, 1039-1043. (98) Kim, B.; Beebe, J. M.; Olivier, C.; Rigaut, S.; Touchard, D.; Kushmerick, J. G.; Zhu, X.-Y.; Frisbie, C. D. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 7521-7526. (99) Nagahara, L. A.; Thundat, T.; Lindsay, S. M. Rev. Sci. Instrum. 1989, 60, 3128-3130. (100)Wang, C.-C.; Lo, W.-C.; Chou, C.-C.; Lee, G.-H.; Chen, J.-M.; Peng, S.-M. Inorg. Chem. 1998, 37, 4059-4065. (101)Lin, S.-Y.; Chen, I.-W. P.; Chen, C.-h.; Hsieh, M.-H.; Yeh, C.-Y.; Lin, T.-W.; Chen, Y.-H.; Peng, S.-M. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 959-964. (102)Liu, I. P.-C.; Benard, M.; Hasanov, H.; Chen, I.-W. P.; Tseng, W.-H.; Fu, M.-D.; Rohmer, M.-M.; Chen, C.-h.; Lee, G.-H.; Peng, S.-M. Chem. Eur. J 2007, 13, 8667-8677. (103)Yeh, C.-Y.; Chiang, Y.-L.; Lee, G.-H.; Peng, S.-M. Inorg. Chem. 2002, 41, 4096-4098. (104)駱韋仲 八十五學年度國立台灣大學化學研究所博士論文 1997. (105)Lopez, X.; Benard, M.; Rohmer, M.-M. J. Mol. Chem., Theochem. 2006, 777, 53-60. (106)Lai, S.-H.; Hsiao, C.-J.; Huang, Y.-M.; Chen, I.-C.; Wang, W.-Z.; Peng, S.-M. J. Raman Spectrosc. 2010, 41, 1694-1699. (107)Huang, Y.-M.; Lai, S.-H.; Lee, S. J.; Chen, I.-C. J. Phys. Chem. C 2011, 115, 2454-2461. (108)Yeh, C.-Y.; Wang, C.-C.; Chen, C.-h.; Peng, S.-M. In Redox Systems under Nano-Space Control; Hirao, T., Ed.; Springer-Verlag: Berlin, 2006. (109)Berry, J. F.; Cotton, F. A.; Lu, T.; Murillo, C. A.; Roberts, B. K.; Wang, X. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 7082-7096. (110)Li, H.; Lee, G.-H.; Peng, S.-M. J. Mol. Stru. 2004, 707, 209811-209813. (111)Chen, Y.-H.; Lee, C.-C.; Wang, C.-C.; Lee, G.-H.; Lai, S.-Y.; Li, F.-Y.; Mou, C.-Y.; Peng, S.-M. Chem. Commun. 1999, 1667-1668. (112)Ismayilov, R. H.; Wang, W.-Z.; Wang, R.-R.; Yeh, C.-Y.; Lee, G.-H.; Peng, S.-M. Chem. Commun. 2007, 1121-1123. (113)Liu, H.; Wang, N.; Zhao, J.; Guo, Y.; Yin, X.; Boey, F. Y. C.; Zhang, H. ChemPhysChem 2008, 9, 1416-1424. (114)Lai, S.-Y.; Lin, T.-W.; Chen, Y.-H.; Wang, C.-C.; Lee, G.-H.; Yang, M.-h.; Leung, M.-k.; Peng, S.-M. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 250-251. (115)Yang, E.-C.; Cheng, M.-C.; Tsai, M.-S.; Peng, S.-M. J. Chem. Soc. Chem. Commun. 1994, 2377-2378. (116)Beebe, J. M.; Kim, B.; Gadzuk, J. W.; Frisbie, C. D.; Kushmerick, J. G. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 026801. (117)Otsuki, J. Coord. Chem. Rev. 2010, 254, 2311-2341. (118)Mohnani, S.; Bonifazi, D. Coord. Chem. Rev. 2010, 254, 2342-2362. (119)Lim, J. M.; Yoon, Z. S.; Shin, J.-Y.; Kim, K. S.; Yoon, M.-C.; Kim, D. Chem. Commun. 2009, 261-273. (120)Khoury, T.; Crossley, M. J. Chem. Commun. 2007, 4851-4853. (121)Taylor, P. N.; Huuskonen, J.; Rumbles, G.; Aplin, R. T.; Williams, E.; L., H.; Anderson, H. L. Chem. Commun. 1998, 909-910. (122)Jurow, M.; Schuckman, A. E.; Batteas, J. D.; Drain, C. M. Coord. Chem. Rev. 2010, 254, 2297-2310. (123)Sedghi, G.; Garcia-Suarez, V. M.; Esdaile, L. J.; Anderson, H. L.; Lambert, C. J.; Martin, S.; Bethell, D.; Higgins, S. J.; Elliott, M.; Bennett, N.; Macdonald, J. E.; Nichols, R. J. Nature Nanotech. 2011, 6, 517-523. (124)Li, Z.; Borguet, E. J. Am. Chem. Soc. 2012, 134, 63-66. (125)Li, Z.; Park, T.-H.; Rawson, J.; Therien, M. J.; Borguet, E. Nano Lett. 2012, 12, 2722-2727. (126)Perrin, M. L.; Prins, F.; Martin, C. A.; Shaikh, A. J.; Eelkema, R.; van Esch, J. H.; Briza, T.; Kaplanek, R.; Kral, V.; van Ruitenbeek, J. M.; van der Zant, H. S. J.; Dulić, D. Angew. Chem. Int. Ed. 2011, 50, 11223-11226. (127)Martin, S.; Haiss, W.; Higgins, S.; Cea, P.; Lopez, M. C.; Nichols, R. J. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 3941-3948. (128)Haiss, W.; Wang, C.; Grace, I.; Batsanov, A. S.; Schiffrin, D. J.; Higgins, S. J.; Bryce, M. R.; Lambert, C. J.; Nichols, R. J. Nature Mater. 2006, 5, 995-1002. (129)Wang, C.; Batsanov, A. S.; Bryce, M. R.; Martin, S.; Nichols, R. J.; Higgins, S. J.; Garcia-Suarez, V. M.; Lambert, C. J. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 15647-15654. (130)Hong, W.; Manrique, D. Z.; Moreno-Garcia, P.; Gulcur, M.; Mishchenko, A.; Lambert, C. J.; Bryce, M. R.; Wandlowski, T. J. Am. Chem. Soc. 2012, 134, 2292-2304. (131)Lu, X.; Hipps, K. W.; Wang, X. D.; Mazur, U. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 7197-7202. (132)Hipps, K. W.; Lu, X.; Wang, X. D.; Mazur, U. J. Phys. Chem. 1996, 100, 11207-11210. (133)Lu, X.; Hipps, K. W. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 5391-5396. (134)Scudiero, L.; Hipps, K. W.; Barlow, D. E. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 2903-2909. (135)Herrmann, C.; Solomon, G. C.; Ratner, M. A. J. Phys. Chem. C 2010, 114, 20813-20820. (136)Quek, S. Y.; Kamenetska, M.; Steigerwald, M. L.; Choi, H. J.; Louie, S. G.; Hybertsen, M. S.; Neaton, J. B.; Venkataraman, L. Nature Nanotech. 2009, 4, 230-234. (137)Xiao, X.; Xu, B.; Tao, N. J. Nano Lett. 2004, 4, 267-271. (138)He, J.; Chen, F.; Li, J.; Sankey, O. F.; Terazono, Y.; Herrero, C.; Gust, D.; Moore, T. A.; Moore, A. L.; Lindsay, S. M. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 1384-1385. (139)Tsutsui, M.; Teramae, Y.; Kurokawa, S.; Sakai, A. Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 163111-163113. (140)van Zalinge, H.; Schiffrin, D. J.; Bates, A. D.; Haiss, W.; Ulstrup, J.; Nichols, R. J. ChemPhysChem 2006, 7, 94-98. (141)Jang, S.-Y.; Reddy, P.; Majumdar, A.; Segalman, R. A. Nano Lett. 2006, 6, 2362-2367. (142)Quinn, J. R.; Frank W. Foss, J.; Venkataraman, L.; Hybertsen, M. S.; Breslow, R. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 6714-6715. (143)Li, Z.; Pobelov, I.; Han, B.; Wandlowski, T.; Błaszczyk, A.; Mayor, M. Nanotechnology 2007, 18, 044018-044025. (144)Huber, R.; Gonzalez, M. T.; Wu, S.; Langer, M.; Grunder, S.; Horhoiu, V.; Mayor, M.; Bryce, M. R.; Wang, C.; Jitchati, R.; Schonenberger, C.; Calame, M. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 1080-1084. (145)Zhou, X.-S.; Chen, Z.-B.; Liu, S.-H.; Jin, S.; Liu, L.; Zhang, H.-M.; Xie, Z.-X.; Jiang, Y.-B.; Mao, B.-W. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 3935-3940. (146)Yang, W. R.; Jones, M. W.; Li, X.; Eggers, P. K.; Tao, N.; Gooding, J. J.; Paddon-Row, M. N. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 9072-9080. (147)Haiss, W.; Wang, C.; Jitchati, R.; Grace, I.; Martin, S.; Batsanov, A. S.; Higgins, S. J.; Bryce, M. R.; Lambert, C. J.; Jensen, P. S.; Nichols, R. J. J. Phys.: Condens. Matter 2008, 20, 374119-374127. (148)Tsutsui, M.; Taniguchi, M.; Kawai, T. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 10552-10556. (149)Taniguchi, M.; Tsutsui, M.; Shoji, K.; Fujiwara, H.; Kawai, T. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 14146-14147. (150)Park, Y. S.; Widawsky, J. R.; Kamenetska, M.; Steigerwald, M. L.; Hybertsen, M. S.; Nuckolls, C.; Venkataraman, L. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 10820-10821. (151)Diez-Perez, I.; Hihath, J.; Lee, Y.; Yu, L.; Adamska, L.; Kozhushner, M. A.; Oleynik, I. I.; Tao, N. Nature Chem. 2009, 1, 635-641. (152)Taniguchi, M.; Tsutsui, M.; Yokota, K.; Kawai, T. Chem. Sci. 2010, 1, 247-253. (153)Ie, Y.; Hirose, T.; Nakamura, H.; Kiguchi, M.; Takagi, N.; Kawai, M.; Aso, Y. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 3014-3022. (154)Parameswaran, R.; Widawsky, J. R.; Vazquez, H.; Park, Y. S.; Boardman, B. M.; Nuckolls, C.; Steigerwald, M. L.; Hybertsen, M. S.; Venkataraman, L. J. Phys. Chem. Lett. 2010, 1, 2114-2119. (155)Dell'Angela, M.; Kladnik, G.; Cossaro, A.; Verdini, A.; Kamenetska, M.; Tamblyn, I.; Quek, S. Y.; Neaton, J. B.; Cvetko, D.; Morgante, A.; Venkataraman, L. Nano Lett. 2010, 10, 2470-2474. (156)Kamenetska, M.; Quek, S. Y.; Whalley, A. C.; Steigerwald, M. L.; Choi, H. J.; Louie, S. G.; Nuckolls, C.; Hybertsen, M. S.; Neaton, J. B.; Venkataraman, L. J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 6817-6821. (157)Xing, Y.; Park, T.-H.; Venkatramani, R.; Keinan, S.; Beratan, D. N.; Therien, M. J.; Borguet, E. J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 7946-7956. | |
| dc.identifier.uri | http://tdr.lib.ntu.edu.tw/jspui/handle/123456789/63398 | - |
| dc.description.abstract | 架接於兩電極間的單分子，影響其導電值的因素來自於分子主體、分子與電極間的鍵結方式及分子軌域與電極間的能障。本論文以掃描穿隧顯微術之重複斷裂接合法(scanning tunneling microscopy break junction, STM BJ)量測分子導電值，目標分子為(1)直線型金屬串分子([MnL4(NCS)2], M = Ni2+, Co2+, Cr2+; n = 3, 5, 7; L = oligo-α-pyridylamido anions)及(2)紫質(bis-5,15-(3,5-di-tert-butylphenyl)- (10,20-di- pyridyl-porphyrin), DPDPyP)。利用電化學方法控制直線型金屬串分子的氧化還原態，以STM BJ測量分子中性態與第一個氧化態的導電值，顯示導電值趨勢與金屬核間的作用力有關。I(V)曲線經數據處理可得到轉變電壓(transition voltage, Vtrans)，說明金屬串分子越導電時可得到越小的Vtrans，間接瞭解分子軌域−電極間的能障與導電值的關係。此外，若將原型金屬串分子的多吡啶胺改變為具推拉電子基的橫向配位基，亦會達到調控分子串之導電值。
本論文也探討紫質的導電值，其中心金屬為鐵(III)、鈷(II)、鎳(II)、銅(II)、鋅(II)及free base。紫質主要具有兩組導電值，由分子長度與探針−表面間之距離，得到紫質在高導電值時以傾斜30度架接在兩電極間，而低導電值時紫質垂直於表面。由不具與電極鍵結的頭基的coronene及hexabenzocoronene平面高共軛分子仍可測得導電值，推論金屬紫質在高導電值時電子會直接由電極經過紫質本體到達另一端電極，高導電值的差異與中心金屬有關；低導電值時電子是以紫質外環作為傳遞路徑，與中心金屬無關。 | zh_TW |
| dc.description.abstract | The charge transport of single-molecule is dictated by the charge injection efficiency at the electrode-molecule contacts and through the molecule. Studied herein is to measure the conductance of (1) the extended metal-atom chains (EMACs, [MnL4(NCS)2], M = Ni2+, Co2+, and Cr2+; n = 3, 5, and 7; L = oligo-α-pyridylamido anions) and (2) metalloporphyrins (bis-5,15-(3,5-di-tert-butylphenyl)- (10,20-di-pyridyl) porphyrin, DPDPyP) by the technique of scanning tunneling microscopy break junction (STM BJ). The redox states of EMACs can be controlled electrochemically and the conductance can be measured. The conductance at the two states is qualitatively well correlated with the metal-metal interactions. Higher conductance of EMAC exhibits smaller transition voltage can realize the relationship between the energy gap and the conductance. In addition, the conductance of EMACs can be tuned by replacing the oligo-α-pyridylamido anions with electron-donating or electron- withdrawing ligands.
The DPDPyPs with the metal centers of Fe(III), Co(II), Ni(II), Cu(II), Zn(II), and free base show two conductance (HC and LC) regions. In comparison with the molecular length and the tip-electrode distance, DPDPyPs tilt 30o and 90o between two electrodes in the HC and LC region, respectively. The conductance of coronene and hexabenzocoronene without anchoring group can also be measured, suggesting that electrons can pass through the molecules. We propose that the electrons pass directly through the porphyrin rings in the HC region and along porphyrin rings in the LC region. | en |
| dc.description.provenance | Made available in DSpace on 2021-06-16T16:39:15Z (GMT). No. of bitstreams: 1 ntu-101-D95223023-1.pdf: 6768959 bytes, checksum: 0a39fcd09b5e7af3d2f2b75320509acd (MD5) Previous issue date: 2012 | en |
| dc.description.tableofcontents | 中文摘要 I
英文摘要 II 謝誌 III 總目錄 VI 圖目錄 IX 表目錄 XIV 第一章 緒論 1 1-1 分子電子元件 1 1-2 單分子導電性量測方法 5 1-2-1 STM方法 5 1-2-2 MCBJ方法 6 1-2-3 cAFM方法 7 1-2-4 STM BJ方法 8 1-2-5 I(s)方法 10 1-2-6 I(t)方法 11 1-3 影響分子導電值之因素 12 1-3-1 電子衰減常數與接觸電阻 12 1-3-2 藍道爾方程式 13 1-3-2-1 分子與電極接點 14 1-3-2-2 分子本體 18 1-3-3 外在環境影響 21 1-3-4 能階匹配 22 1-3-4-1 電極材料對能階匹配之影響 23 1-3-4-2 改變分子官能基對能階匹配之影響 26 1-3-4-3 以電化學調控電極之能階 29 1-4 實驗動機 33 第二章 實驗部分與儀器介紹 34 2-1 藥品、耗材及儀器設備 34 2-2 實驗操作方法 36 2-2-1 將金蒸鍍在載玻片上以形成金電極 36 2-2-2 金(111)表面的製作 37 2-2-3 循環伏安法之掃描 38 2-2-4 探針製備與絕緣 39 2-2-5 電化學液體槽的組裝 41 2-2-6 I-Ewk曲線及I(V)曲線實驗操作方法 42 2-2-7 STM BJ量測後的統計圖處理 43 2-2-8 DFT計算分子軌域能階方法 43 第三章 以電化學方法調控鎳、鈷、鉻分子串之導電值 45 3-1 金屬串分子之背景介紹與實驗動機 45 3-2 測量金原子串的導電值做為控制實驗 46 3-3 確認金屬串分子以−NCS官能基鍵結於金表面 47 3-4 溶劑對Ni5分子串導電值的影響 48 3-5 探討金屬串分子在中性態及第一個氧化態下的電阻值 49 3-6 β值及接觸電阻對電子傳遞效率的影響 65 3-7 Ni5、Co5、Cr5分子串隨掃描工作電位之導電值探討 67 3-8 能障與導電值的關係 72 3-9 總結 76 第四章 紫質之中心金屬對導電性的影響 77 4-1 紫質之背景介紹及文獻回顧 77 4-2 測量紫質導電值之實驗動機 78 4-3 紫質電阻值和文獻上有機共軛分子的電阻值之比較 79 4-4 紫質之中心金屬對電阻值的影響 80 4-5 紫質電子傳遞之探討 85 4-5-1 紫質架接在兩電極間之角度探討 85 4-5-2 紫質電子傳遞之推論及驗證 90 4-5-3 影響紫質導電值的可能因素 94 4-6 總結 99 第五章 結論 100 第六章 參考文獻 101 附錄一 所有文獻分子之電阻值 113 附錄二 金屬串分子的橫向配基對導電性之影響 126 附錄三 紫質分子之CV圖 131 附錄四 紫質分子之UV吸收圖 132 | |
| dc.language.iso | zh-TW | |
| dc.title | 調控單分子橋接系統之研究：以掃描穿隧顯微術之斷裂接合法測量直線型金屬串及金屬紫質之導電值 | zh_TW |
| dc.title | Tuning of Single Molecular Junctions: Conductance Measurements of Extended Metal-Atom Chains and Metalloporphyrins by STM Break Junction Method | en |
| dc.type | Thesis | |
| dc.date.schoolyear | 101-1 | |
| dc.description.degree | 博士 | |
| dc.contributor.oralexamcommittee | 彭旭明(Shie-Ming Peng),金必耀(Bih-Yaw Jin),陳益佳(I-Chia Chen),葉鎮宇(Chen-Yu Yeh) | |
| dc.subject.keyword | 分子導電值,直線型金屬串分子,紫質, | zh_TW |
| dc.subject.keyword | molecule conductance,extended metal-atom chains,porphyrins, | en |
| dc.relation.page | 132 | |
| dc.rights.note | 有償授權 | |
| dc.date.accepted | 2012-09-19 | |
| dc.contributor.author-college | 理學院 | zh_TW |
| dc.contributor.author-dept | 化學研究所 | zh_TW |
| 顯示於系所單位： | 化學系 | |
文件中的檔案：
| 檔案 | 大小 | 格式 | |
|---|---|---|---|
| ntu-101-1.pdf 目前未授權公開取用 | 6.61 MB | Adobe PDF |
系統中的文件，除了特別指名其著作權條款之外，均受到著作權保護，並且保留所有的權利。