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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
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2015 | 具有位移及角度量測功能之全像式原子力顯微鏡之設計與開發 Design and Development of HOE-based Atomic Force Microscope with Translational and Angular measurements | Bo-Jing juang; 莊博景 | 機械工程學研究所 |
2013 | 水溶液環境原子力顯微鏡系統之設計與開發 Design and Development of Atomic Force Microscope Systems for Liquid Environment | Hsien-Shun Liao; 廖先順 | 機械工程學研究所 |
2010 | 一維奈米材料與半導體材料表面摩擦性質之研究 Tribological interaction between one dimensional nano material and semi-conductor surface | Jung-Hui Hsu; 徐榮輝 | 機械工程學研究所 |
2020 | 高斯光束縱向解析原理應用於新型離焦式原子力顯微鏡之研發 Axial Intensity Measuring Principle of Gaussian Beam for Developing a Novel Defocus Atomic Force Microscope | Chung-Hsiang Cheng; 鄭仲翔 | 機械工程學研究所 |
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系所
- 4 機械工程學研究所
指導教授
關鍵字
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- 1 afm
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