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機械工程學系
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2015
具有位移及角度量測功能之全像式原子力顯微鏡之設計與開發
Design and Development of HOE-based Atomic Force Microscope with Translational and Angular measurements
Bo-Jing juang; 莊博景
機械工程學研究所
探索
系所
1
機械工程學研究所
學位
1
博士
指導教授
1
黃光裕
作者
1
莊博景
關鍵字
1
atomic force microscopy
1
atomic force microscopy,holograph...
1
atomic force microscopy,holograph...
1
atomic force microscopy,holograph...
1
原子力顯微鏡,全像式光學元件
1
原子力顯微鏡,全像式光學元件,位移量測
1
原子力顯微鏡,全像式光學元件,位移量測,角度量測
出版年
1
2015
全文授權
1
同意授權(全球公開)
全文
1
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