搜尋
新增篩選器:
使用篩選器讓結果更精確。
第 1 到 4 筆結果,共 4 筆。
- 上一個
- 1
- 下一個
符合的文件:
出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
---|---|---|---|
2015 | 具有位移及角度量測功能之全像式原子力顯微鏡之設計與開發 Design and Development of HOE-based Atomic Force Microscope with Translational and Angular measurements | Bo-Jing juang; 莊博景 | 機械工程學研究所 |
2013 | 水溶液環境原子力顯微鏡系統之設計與開發 Design and Development of Atomic Force Microscope Systems for Liquid Environment | Hsien-Shun Liao; 廖先順 | 機械工程學研究所 |
2017 | 像散式量測系統於掃針式原子力顯微鏡之設計與開發 Design and Development of Tip-scanning Atomic Force Microscope based on an Astigmatic Detection System | Shao-Po Chiu; 邱紹博 | 機械工程學研究所 |
2013 | 水溶液原子力顯微術雙模態磁激振裝置之設計與開發 Design and Development of Bi-modal Magnetic Stimulation Device for Atomic Force Microscope in Liquid | Yi-Shen Chen; 陳奕伸 | 機械工程學研究所 |
探索
系所
- 4 機械工程學研究所
關鍵字
- 2 atomic force microscopy
- 1 afm
- 1 afm,liquid environment
- 1 afm,liquid environment,astigmatism
- 1 atomic force microscope
- 1 atomic force microscope,piezo act...
- 1 atomic force microscope,piezo act...
- 1 atomic force microscope,piezo act...
- 1 atomic force microscope,piezo act...
- 1 atomic force microscopy,bending-r...
- 下一頁 >
全文授權
- 2 同意授權(全球公開)
- 2 有償授權
全文
- 4 true