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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
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2016 | 運用於矽穿孔關鍵尺寸量測之彩色共焦顯微技術發展 Development of Chromatic Confocal Microscopic Technique for Measuring Key Dimension of Through Silicon Vias | Chien-Wei Lee; 李建緯 | 機械工程學研究所 |