搜尋
新增篩選器:
使用篩選器讓結果更精確。
第 1 到 1 筆結果,共 1 筆。
- 上一個
- 1
- 下一個
符合的文件:
出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
---|---|---|---|
2020 | 高斯光束縱向解析原理應用於新型離焦式原子力顯微鏡之研發 Axial Intensity Measuring Principle of Gaussian Beam for Developing a Novel Defocus Atomic Force Microscope | Chung-Hsiang Cheng; 鄭仲翔 | 機械工程學研究所 |
探索
系所
- 1 機械工程學研究所
學位
- 1 博士
指導教授
關鍵字
- 1 atomic force microscope
- 1 atomic force microscope,defocus
- 1 atomic force microscope,defocus,l...
- 1 atomic force microscope,defocus,l...
- 1 atomic force microscope,defocus,l...
- 1 atomic force microscope,defocus,l...
- 1 atomic force microscope,defocus,l...
- 1 原子力顯微鏡,離焦式
- 1 原子力顯微鏡,離焦式,雷射二極體
- 1 原子力顯微鏡,離焦式,雷射二極體,高斯光束
- 下一頁 >
出版年
- 1 2020
全文授權
- 1 未授權
全文
- 1 true