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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
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2020 | 高斯光束縱向解析原理應用於新型離焦式原子力顯微鏡之研發 Axial Intensity Measuring Principle of Gaussian Beam for Developing a Novel Defocus Atomic Force Microscope | Chung-Hsiang Cheng; 鄭仲翔 | 機械工程學研究所 |