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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
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2021 | 以穿透式電子顯微鏡斷層掃描分析技術研究矽奈米線於電晶體元件的應用 Transmission Electron Microscopy Tomography Analysis of Silicon Nanowires for the Application of Nanowire Transistors | Cheng-Yu Chen; 陳承佑 | 材料科學與工程學研究所 |