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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
---|---|---|---|
2007 | 以正交相移法提升斑點干涉顯微術的量測範圍 Enhancing Metrology Dynamic Range of Speckle Micro-interferometry by Quadrature Signal Algorithm | Han-Wei Wang; 王瀚威 | 應用力學研究所 |
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系所
- 1 應用力學研究所
學位
- 1 碩士
關鍵字
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- 1 電子斑點干涉術
- 1 電子斑點干涉術,熱變形量測
- 1 電子斑點干涉術,熱變形量測,時進正交相移法
- 1 電子斑點干涉術,熱變形量測,時進正交相移法,曝光控制
- 1 電子斑點干涉術,熱變形量測,時進正交相移法,曝光控制,微機電量測
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出版年
- 1 2007
全文
- 1 true