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符合的文件:
出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
---|---|---|---|
2017 | 特殊應用積體電路之良率與最佳品管架構分析 Defect Rate Analysis for the Optimal Quality Control Scheme of Application Specific IC | Yi-Ju Ting; 丁奕如 | 工業工程學研究所 |
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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
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2017 | 特殊應用積體電路之良率與最佳品管架構分析 Defect Rate Analysis for the Optimal Quality Control Scheme of Application Specific IC | Yi-Ju Ting; 丁奕如 | 工業工程學研究所 |