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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
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2009 | 半導體製程控制之晶圓允收測試及線上量測參數關係分析 Correlation Analysis between Wafer Acceptance Test and In-line Data for Process Control in Semiconductor Manufacturing | Chun-Yao Lu; 呂春瑤 | 工業工程學研究所 |