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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
---|---|---|---|
2012 | 以吉氏抽樣數值法鑑別影響半導體製造良率的關鍵機台組合 Identifying Tool Combinations Critical to Semiconductor Manufacturing Yield with Gibbs Sampler | Yu-Chin Hsu; 徐鈺欽 | 工業工程學研究所 |
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系所
- 1 工業工程學研究所
學位
- 1 碩士
關鍵字
- 1 semiconductor manufacturing yield...
- 1 semiconductor manufacturing yield...
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- 1 semiconductor manufacturing yield...
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- 1 半導體製造良率
- 1 半導體製造良率,機台共同性分析
- 1 半導體製造良率,機台共同性分析,機台組合效應
- 1 半導體製造良率,機台共同性分析,機台組合效應,馬可夫鏈蒙地卡羅
- 1 半導體製造良率,機台共同性分析,機台組合效應,馬可夫鏈蒙地卡羅,吉氏抽樣
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出版年
- 1 2012
全文授權
- 1 有償授權
全文
- 1 true