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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
---|---|---|---|
2018 | 絕緣柵雙極電晶體在JEDEC熱循環標準下之疲勞壽命與可靠度評估 Thermal Fatigue Life and Reliability Evaluation of Insulated Gate Bipolar Transistor under JEDEC-Specified Thermal Cycling | Chien-Chun Chen; 陳建君 | 機械工程學研究所 |
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系所
- 1 機械工程學研究所
學位
- 1 碩士
關鍵字
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- 1 絕緣柵雙極電晶體,焊接層,參數不確定性
- 1 絕緣柵雙極電晶體,焊接層,參數不確定性,熱疲勞壽命分布
- 1 絕緣柵雙極電晶體,焊接層,參數不確定性,熱疲勞壽命分布,可靠度
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出版年
- 1 2018
全文授權
- 1 未授權
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