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  1. NTU Theses and Dissertations Repository
  2. 電機資訊學院
  3. 電子工程學研究所
請用此 Handle URI 來引用此文件: http://tdr.lib.ntu.edu.tw/jspui/handle/123456789/25377
標題: 全數位延遲鎖定迴路及工作週期修正電路之設計與實現
Design and implementation of all-digital DLL and duty cycle corrector circuit
作者: Shao-Ku Kao
高少谷
指導教授: 劉深淵(Shen-Iuan Liu)
關鍵字: 延遲鎖定迴路: 工作週期修正電路,
delay locked loop: duty cycle corrector circuit,
出版年 : 2007
學位: 博士
摘要: 本論文敘述使用先進的製程去實現類比電路數位化,來解決時脈的位移和工作週期的控制。由於類比電路數位化可以達到相當於類比電路的效能,而且全數位的設計具有高攜帶性以及在它可以輕易轉移到不同的製程上。它高整合性、低消耗功率和低抖動的特性也很容易整合在單一系統之中。在雙倍取樣的系統中,例如靜態記憶體和類比到數位轉換器,具有50% 工作週期的訊號是非常重要。因此,我們需要工作週期校正器使得時脈的校正工作週期自動校正到50%。
這本論文中提出一個全數位的寬度可控制迴路並可控制工作週期,輸出的時脈不但可以產生50%的工作週期,還可以調整工作週期30%~70%在每10%一個單位。一個時脈寬度偵測電路是使用連續式的時間轉化成數位電路來偵測輸入的工作週期。接著,我們提出把全數位的寬度可控制迴路放置於全數位延遲鎖相迴路中,所以得到輸出時脈同步於輸入時脈,同時得到可控制的工作週期。這兩個實驗晶片都是使用0.35um CMOS製程。
接著,我們發展全數位工作週期校正器的電路。第一測試晶片產生50%工作週期和同步於輸入時脈,可接受的工作週期和頻率範圍分別為40% 到60% 和 800 百萬赫茲到1200百萬赫茲。第二測試晶片有設計一個週期偵測器來偵測輸入時脈有週期變化時,能可自動產生50%工作週期。可接受輸入時脈的工作週期為10% 到90%和頻率範圍1億赫茲到1.6億赫茲。這全數位工作週期校正器的電路都是使用0.18um CMOS製程。
This thesis describes digital implemented the analog circuit with advanced standard sub-micro CMOS technology to solves of clock skew and duty cycle. The digital implemented IC can achieve a fine performance compare to the analog. It has high portability and scalability across different technology process. Its high integrity, low power, and low jitter performance can be easily incorporated into a single chip and successful realization of the system-on-a-chip (SOC). A clock with 50% duty cycle is extremely important in many double-rate systems such as DDR-SDRAMs and analog-to-digital converters. Therefore duty-cycle corrector (DCC) is needed to correct duty cycle as 50%.
This dissertation provides an all-digital pulsewidth control loop (PWCL) with adjustable duty cycle. The output clock is not only achieved 50% duty cycle, but can adjust from 30%~70% in steps of 10%. A pulsewidth detector using the sequential time-to-digital conversion is employed to detect the duty cycle of input clock. Then, we proposed the PWCL is embedded with an all-digital delay-locked loop. Therefore, the output of clock can synchronize with input clock and also with variable duty cycle. Both experimental chips have been fabricated in a 0.35um CMOS process. The operation frequency range is from 400 MHz to 600 MHz.

Next, we develop all-digital duty cycle corrector circuit; the first test chip generates the 50% duty cycle and synchronizes with input clock. The measurement results shows the proposed circuit operates with input frequency range with 0.8~1.2GHz and input 40%~60% duty cycle. The second test chip, a period monitor is used to track the period of input to keep 50% duty cycle, when the period of input clock is changed. The proposed circuit works for the input duty cycle of 10%~90% and the measured operation frequency range is from 1 GHz to 1.6 GHz. The all-digital duty cycle corrector circuits have been verified on silicon using 0.18um CMOS technology.
URI: http://tdr.lib.ntu.edu.tw/jspui/handle/123456789/25377
全文授權: 未授權
顯示於系所單位:電子工程學研究所

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