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第 1 到 9 筆結果,共 9 筆。
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2019
用於微機電檢測之原子力顯微鏡探針定位及高效率掃描方法
AFM Tip Localization and Efficient Scanning Method Applicate in MEMS Inspection
Yi-Lin Liu; 劉逸霖
電機工程學研究所
2018
複合原子力顯微鏡與共軛焦雷射掃描顯微鏡之新式掃描
Novel Micro Scanning with Integrated Atomic Force Microscope and Confocal Laser Scanning Microscope
Meng-Hao Chou; 周孟皓
電機工程學研究所
2017
雷射共軛焦顯微鏡暨原子力顯微鏡之新穎複合系統設計
A Novel Design of Hybrid Microscope by Integrating Atomic-Force Microscope and Confocal Laser Scanning Microscope
Da-Wei Liu; 劉大瑋
電機工程學研究所
2020
用於提升微機電側邊量測精準度之原子力顯微鏡新式掃描方法
Novel Enhancement of Steep Sidewall Scan in AFM for MEMS Inspection
Ching-Chi Huang; 黃靖期
電機工程學研究所
2023
整合旋轉平台與可旋轉探針於新型全向式原子力顯微鏡之高精度掃描
High Precision Scanning of a Novel Omnidirectional AFM Integrated with Rotating Stage and Rotatable Probe
魏向泓; Hsiang-Hung Wei
電機工程學系
2022
應用可旋轉式探針和可變式掃描速度之新式原子力顯微鏡掃描方法
A New AFM Scanning Method with a Rotatable Probe and an Adaptive Scanning Speed Strategy
李盛安; Sheng-An Lee
電機工程學系
2013
光學顯微鏡輔助之大範圍原子力顯微鏡精密正弦式局部掃描
Precision Sinusoidal Local Scan for Large Range Atomic Force Microscopy with Auxiliary Optical Microscopy
Chih-Lieh Chen; 陳志烈
電機工程學研究所
2014
最適傾角之高精確掃描雙探針原子力顯微鏡系統
A Dual Probes AFM System with Effective Tilting Angles to Achieve High-Precision Scanning
Yi-Ting Lin; 林奕廷
電機工程學研究所
2014
自適傾角演算法於高精確雙探針原子力顯微鏡
Adaptive Tilting Angles to Achieve High-Precision Scanning of a Dual-Probe AFM
Yu-Ting Lo; 羅宇廷
電機工程學研究所
探索
系所
7
電機工程學研究所
2
電機工程學系
指導教授
5
傅立成(li-chen fu)
4
傅立成
2
li-chen fu
作者
1
chih-lieh chen
1
ching-chi huang
1
da-wei liu
1
hsiang-hung wei
1
meng-hao chou
1
sheng-an lee
1
yi-lin liu
1
yi-ting lin
1
yu-ting lo
1
劉大瑋
.
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關鍵字
4
atomic force microscope (afm)
2
atomic force microscope (afm),con...
2
atomic force microscopy
2
原子力顯微鏡,雙探針掃描
2
原子力顯微鏡,雷射共軛焦顯微鏡
1
afm
1
afm,sidewall distortion
1
afm,sidewall distortion,data dist...
1
afm,sidewall distortion,data dist...
1
afm,sidewall distortion,data dist...
.
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出版年
1
2023
1
2022
1
2020
1
2019
1
2018
1
2017
2
2014
1
2013
全文授權
7
有償授權
1
同意授權(全球公開)
1
同意授權(限校園內公開)
全文
9
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