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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
---|---|---|---|
2019 | 鍺金氧半電容介面缺陷密度與遲滯現象降低及等效功函數之調變 Interface Trap Density and Hysteresis Reduction of Ge MISCAPs and Effective Work Function Modulation | Chih-Hsiung Huang; 黃智雄 | 電子工程學研究所 |
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系所
- 1 電子工程學研究所
指導教授
- 1 劉致為
關鍵字
- 1 ge
- 1 ge,algeo
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出版年
- 1 2019
全文授權
- 1 有償授權
全文
- 1 true