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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
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2013 | 超薄金氧半結構電容-電壓與電流-電壓特性之量子力學模型與驗證 A Comprehensive Quantum-Mechanical Model for C-V and I-V Characteristics in Ultrathin MOS Structure and Experiment Verification | Chien-Wei Lee; 李建緯 | 電子工程學研究所 |